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一种集成电路电磁兼容性试验方法及其模拟试验系统装置

摘要

一种集成电路电磁兼容性试验方法及其模拟试验系统装置,包括以下步骤:S1受试集成电路组装测试模块与相关电路模块组成待测系统;S2设置模拟测试平台;S3连接电磁场扰动模拟信号和模拟负载到模拟测试平台;S4逐项加载单项电磁场扰动模拟信号进行电磁兼容性测试;S5同时加载多种电磁场扰动模拟信号进行极端电磁环境的电磁兼容性综合试验;S6分析评估试验结果。实现既能进行单项电磁场扰动信号的电磁兼容性测试,也能同时加载多种电磁场扰动模拟信号,模拟实际极端电磁环境中电磁场的剧烈扰动,进行电磁兼容性综合试验。因此试验结果与实际电磁环境之间的误差较小。可供研发试验、型式试验、验收试验、生产试验等各个阶段使用。

著录项

  • 公开/公告号CN111830355A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西北大学;

    申请/专利号CN202010817533.4

  • 申请日2020-08-14

  • 分类号G01R31/00(20060101);G01R31/28(20060101);

  • 代理机构61202 西安西达专利代理有限责任公司;

  • 代理人刘华

  • 地址 710069 陕西省西安市碑林区太白北路229号

  • 入库时间 2023-06-19 08:41:05

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