公开/公告号CN111751012A
专利类型发明专利
公开/公告日2020-10-09
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院西安光学精密机械研究所;
申请/专利号CN202010494800.9
申请日2020-06-03
分类号G01J9/02(20060101);G01B11/24(20060101);G01M11/02(20060101);
代理机构61211 西安智邦专利商标代理有限公司;
代理人王凯敏
地址 710119 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
入库时间 2023-06-19 08:30:12
机译: 波前测量装置,波前测量方法,光学元件的制造方法,光学元件的物理参数的测量方法以及光学系统组装调整装置
机译: 深度分辨的波前传感方法,深度分辨的波前传感器以及光学成像的方法和装置
机译: 光学相位测量装置,光学相位测量方法和程序