用于估计布线接合的功率半导体模块的劣化的方法和系统

摘要

一种用于估计布线接合的功率半导体模块(1)的劣化的方法包括：a)获得劣化指标(Degrest_t‑1)；b)按照时间劣化模型估计(11)估计的劣化指标(Degrest_t)；c)获得(3)一组在线测量值(Xon_meas_t)；然后，d1)按照电气等效模型将在线测量值(Xon_meas_t)转换(13)为推论出的劣化指标(Degrmeas_t)，以及e1)计算(15)估计的和推论出的劣化指标(Degrest_t；Degrmeas_t)之间的偏差；和/或d2)将估计的劣化指标(Degrest_t)转换(13)成一组在线估计值(Xon_est_t)，以及e2)计算(15)一组在线测量值与估计值(Xon_meas_t；Xon_est_t)之间的偏差；以及f)依据计算出的偏差，将估计的劣化指标(Degrest_t)校正(17)为经校正的估计的劣化指标(Degrcorr_t)。