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瓷绝缘子内绝缘检测方法以及瓷绝缘子检测电路

摘要

本发明提供一种瓷绝缘子内绝缘检测方法以及瓷绝缘子检测电路,该瓷绝缘子内绝缘检测方法包括:S101:通过冲击电压发生器发送冲击电压,并利用测量回路获取电压变化波形数据;S102:根据电压变化波形数据获取第一电压幅值和第一衰减时间常数以及第二电压幅值和第二衰减时间常数;S103:根据第一衰减时间常数和第二衰减时间常数获取待测瓷绝缘子的绝缘电阻;S104:根据第一电压幅值与第二电压幅值的大小或正常瓷绝缘子的绝缘电阻与待测瓷绝缘子的绝缘电阻的大小判断待测瓷绝缘子是否为劣化瓷绝缘子。本发明准确度高,能够快速检测内绝缘劣化的瓷绝缘子,并且加压时间短,功率小,能量消耗少,判断逻辑简单便于集成,便于检测设备小型化,应用场所广。

著录项

  • 公开/公告号CN111707910A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-09-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 广州广华智电科技有限公司;

    申请/专利号CN202010468963.X

  • 申请日2020-05-28

  • 分类号G01R31/12(20060101);G01R31/18(20060101);G01R27/02(20060101);

  • 代理机构44288 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙);

  • 代理人曾令军

  • 地址 510000 广东省广州市黄埔区香雪八路98号F栋401房F栋403房F栋408房

  • 入库时间 2023-06-19 08:22:20

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