公开/公告号CN111695314A
专利类型发明专利
公开/公告日2020-09-22
原文格式PDF
申请/专利权人 新华三半导体技术有限公司;
申请/专利号CN202010363204.7
发明设计人 胡卓;
申请日2020-04-30
分类号G06F30/3308(20200101);
代理机构
代理人
地址 610000 四川省成都市中国(四川)自由贸易试验区成都高新区天华二路219号4栋1单元1层1号
入库时间 2023-06-19 08:20:46
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2022-01-18
实质审查的生效 IPC(主分类):G06F30/3308 专利申请号:2020103632047 申请日:20200430
实质审查的生效
机译: 一种用于测试多个场致发射光源的芯片测试方法和装置
机译: 一种用于测试多个场致发射光源的芯片测试方法和装置
机译: 一种用于测试多个场致发射光源的芯片测试方法和装置