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一种基于压汞曲线的岩心薄膜束缚水饱和度的测定方法

摘要

本发明公开了基于压汞曲线的岩心薄膜束缚水饱和度的测定方法。所述方法包括如下步骤:对岩心进行压汞实验,得到不同进汞压力下的进汞饱和度,进而得到岩心的孔喉半径和孔吼分布频率;根据进汞压力得到岩心的薄膜束缚水厚度;根据孔喉半径得到岩心的不同进汞区间孔喉平均半径;根据孔喉分布频率、薄膜束缚水厚度和不同进汞区间孔喉平均半径得到岩心的不同进汞区间薄膜束缚水饱和度,进而得到岩心的薄膜束缚水饱和度。本发明可以根据实验压汞曲线数据,快速得到岩心薄膜束缚水饱和度,具有简便实用、可操作性强的特点。本发明薄膜束缚水饱和度的测定结果可应用于储层评价、产能预测、储量计算以及油气藏出水机理研究等众多方面,具有广阔的应用前景。

著录项

  • 公开/公告号CN111693425A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-09-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国石油大学(北京);

    申请/专利号CN201910192711.6

  • 发明设计人 代金友;任茜莹;

    申请日2019-03-14

  • 分类号G01N15/08(20060101);

  • 代理机构11245 北京纪凯知识产权代理有限公司;

  • 代理人王春霞

  • 地址 102249 北京市昌平区府学路18号

  • 入库时间 2023-06-19 08:20:46

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