超光谱线扫描3D测量装置及测量方法

摘要

本发明的主要目的是提供一种基于超光谱的3D测量装置，通过采用线形光源，实现对物体的线扫描测量，加快扫描速度。为实现上述目的，本发明提供一种超光谱线扫描3D测量装置及测量方法，包括光源20，光学头30，测光器40，处理器50，所述光学头30在所述测光器40下方，所述光源20在所述光学头30一侧；所述光学头30包括物镜31，分束器32，所述测光器40包括滤光板41，准直透镜42，光栅43，成像透镜44和面阵传感器45，所述处理器50通过信号线缆46所述与测光器40的所述面阵传感器上45相连接。