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一种无损检测片状金属磁粉磁导率的方法

摘要

本发明提供一种无损检测片状金属磁粉磁导率的方法,其特征在于:使片状金属磁粉在经历磁场取向步骤和径向压实步骤后成型为有序待测体,对有序待测体进行电磁特性测试以获得磁导率或能够用于计算磁导率的参数;磁场取向步骤为:使片状金属磁粉在磁场的作用下平行排列;径向压实步骤为:为片状金属磁粉提供径向压力;磁场取向步骤先于径向压实步骤开始实施,或,磁场取向步骤和径向压实步骤同时开始实施。片状金属磁粉在磁场的取向作用下按照一定的方向规整排布,更容易地被压实成型,规整排布的片状金属磁粉更接近其在最终产品中的状态,能够提高磁导率检测的可靠性以及参考价值。制样和检测的过程皆不损伤片状金属磁粉,可以回收利用。

著录项

  • 公开/公告号CN111638477A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-09-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 广州天兹新材料科技有限公司;

    申请/专利号CN202010418877.8

  • 发明设计人 戴雨兰;

    申请日2020-05-18

  • 分类号G01R33/12(20060101);

  • 代理机构44202 广州三环专利商标代理有限公司;

  • 代理人肖宇扬;付静

  • 地址 510000 广东省广州市石基镇塱边村加宏路8号自编D8车间

  • 入库时间 2023-06-19 08:11:16

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-09-27

    授权

    发明专利权授予

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