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太阳反射谱段光谱仪的光谱辐射亮度标定方法和系统

摘要

本发明提供了一种太阳反射谱段光谱仪的光谱辐射亮度标定方法和系统,包括:通过高温黑体对传递光谱仪的光谱辐射亮度进行标定,得到初始标定的传递光谱仪;采用非线性测量装置对初始标定的传递光谱仪进行线性标定,得到一段光谱辐射亮度区间标定的传递光谱仪;分别采用标定的传递光谱仪和待测光谱仪测量预设光谱辐射亮度源,根据测量结果对待测光谱仪的光谱辐射亮度进行标定。在本发明中,采用传递光谱仪,结合非线性测量的方法实现了对待测光谱仪的光谱辐射亮度进行标定,由于线性标定不需要量值源头,能够消除面积测量和双向反射分布函数测量引入的误差,标定的结果准确性好,精度更高。

著录项

  • 公开/公告号CN111982282A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国计量科学研究院;

    申请/专利号CN202010883990.3

  • 申请日2020-08-28

  • 分类号G01J3/28(20060101);G01J3/02(20060101);

  • 代理机构11463 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人安卫静

  • 地址 100000 北京市朝阳区北三环东路18号

  • 入库时间 2023-06-19 08:04:59

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-11-15

    授权

    发明专利权授予

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