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基于增量局部残差最小二乘的高光谱图像Gabor特征分类方法

摘要

本发明公开了一种基于增量局部残差最小二乘的高光谱图像Gabor特征分类方法,包括以下步骤:读取高光谱图像数据立方体h(x,y,b);使用给定参数(频率幅值和空谱空间方向)的Gabor滤波器对高光谱图像立方体进行滤波,得到特征图像立方体;获取特征图像立方体中已标注类别的像素点作为训练像素,未标记类别的像素点为测试像素;在当前Gabor特征下,利用增量局部残差最小二乘法依次更新重构系数矩阵,以及测试像素重构值与真实测试像素间的累积类别局部残差;清空当前Gabor特征图像数据立方体;在下一组给定的Gabor滤波器参数下,提取新的Gabor特征数据立方体,重复上述更新步骤,得到遍历给定Gabor特征参数集合后的最终类别局部残差;按照最小类别局部残差准则进行分类。

著录项

  • 公开/公告号CN109033980A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-12-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华南理工大学;

    申请/专利号CN201810693801.9

  • 发明设计人 贺霖;关倩仪;

    申请日2018-06-29

  • 分类号

  • 代理机构广州市华学知识产权代理有限公司;

  • 代理人裴磊磊

  • 地址 511458 广东省广州市南沙区环市大道南路25号华工大广州产研院

  • 入库时间 2023-06-19 07:51:04

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-01-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06K9/00 申请日:20180629

    实质审查的生效

  • 2018-12-18

    公开

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