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一种基于连续调制激光照射的复合绝缘子老化程度检测方法

摘要

本发明涉及一种基于连续调制激光照射的复合绝缘子老化程度检测方法,所述方法采用连续调制激光束照射在复合绝缘子表面,在计算机控制激光束调制频率变化过程中,采用红外探测器探测复合绝缘子表面红外辐射信号随调制频率变化情况。根据红外辐射信号的频域变化特性,采用复合绝缘子热传导理论模型拟合得到复合绝缘子的热物理信息(热扩散率)和光吸收特征(体吸收系数和表面吸收率),从而判定复合绝缘子的老化程度。本方法利用老化对复合绝缘子热传导特性和光吸收特性的影响来评估复合绝缘子的老化程度,具有方法和操作简单、结果准确可靠、可快速评估老化程度等优点。

著录项

  • 公开/公告号CN109030411A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-12-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN201810630712.X

  • 发明设计人 李斌成;江海涛;赵斌兴;孙启明;

    申请日2018-06-19

  • 分类号G01N21/39(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2023-06-19 07:48:00

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-01-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/39 申请日:20180619

    实质审查的生效

  • 2018-12-18

    公开

    公开

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