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一种测量光学滤波器本征相频响应的方法

摘要

本发明属于光电技术领域,涉及一种用于测量光学滤波器本征相频响应的方法。本发明可根据光学滤波器的幅频响应测量结果,通过计算得到本征相频响应。相比于现有的光学矢量网络分析方法,该方法无需相位测量模块,简化了系统结构,节约了硬件成本,并且避免了光学滤波器尾纤等附件相频响应对本征相频响应测量结果的影响。本发明的方法可对具有最小群时延的光学滤波器的本征相频响应进行准确测量。

著录项

  • 公开/公告号CN109029923A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-12-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 成都卓力致远科技有限公司;

    申请/专利号CN201810580227.6

  • 发明设计人 张旨遥;高豪;杨帆;袁飞;

    申请日2018-06-07

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)天辰路88号

  • 入库时间 2023-06-19 07:46:29

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-12-18

    公开

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