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一种双惠斯通电桥温度补偿差压压力传感器及其制作方法

摘要

一种双惠斯通电桥温度补偿差压压力传感器及其制作方法,包括含有双惠斯通电桥的硅薄膜及硅衬底,硅衬底从上至下包括保护层、处理层、牺牲层,保护层包括压力浅腔及压力深腔,压力浅腔位于硅薄膜下方,与压力深腔连通,压力深腔另一端和牺牲层连接,处理层包括背腔,背腔一端和牺牲层连接,另一端和外界大气连通,背腔及压力深腔和牺牲层连接的部分在水平方向的投影无重叠,牺牲层包括牺牲层通道,牺牲层通道连通压力深腔和背腔。避免了用深反应离子刻蚀方法形成背腔时,由于刻蚀工艺刻蚀均匀性等问题,导致硅薄膜结构损坏等问题。

著录项

  • 公开/公告号CN109000830A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-12-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 常州元晶电子科技有限公司;

    申请/专利号CN201810672150.5

  • 发明设计人 王焕焕;徐金国;费跃;

    申请日2018-06-26

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 212000 江苏省常州市天宁区青洋北路11号

  • 入库时间 2023-06-19 07:41:53

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-01-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01L1/16 申请日:20180626

    实质审查的生效

  • 2018-12-14

    公开

    公开

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