首页> 中国专利> 基于激光干涉和衰减的接触熔化中微液膜厚度与温度测量装置及方法

基于激光干涉和衰减的接触熔化中微液膜厚度与温度测量装置及方法

摘要

本发明公开了一种基于激光干涉和衰减的接触熔化中微液膜厚度与温度测量装置及方法。所述装置应用于接触熔化传热研究领域。包括激光器、反射镜、分束镜和补偿透明板组成的光学测量系统,图像采集器、激光光束探测器和计算机组成的数据采集与处理系统,透明加热底板和相变材料组成的测量主体。本发明通过光学测量系统同时实现对液膜的激光干涉测量和光束衰减测量功能,再利用数据采集与处理系统分析干涉条纹图案和光强比值,实现了对测量主体中的接触熔化过程底部微液膜厚度和温度的同时在线测量。

著录项

  • 公开/公告号CN108981592A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-12-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 浙江大学;

    申请/专利号CN201810663359.5

  • 申请日2018-06-25

  • 分类号G01B11/06(20060101);G01K11/00(20060101);G01K13/00(20060101);

  • 代理机构33200 杭州求是专利事务所有限公司;

  • 代理人郑海峰

  • 地址 310058 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号

  • 入库时间 2023-06-19 07:40:20

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-01-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/06 申请日:20180625

    实质审查的生效

  • 2018-12-11

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号