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一种FDD-LTE基站电磁辐射变化周期检测方法

摘要

本发明公开了一种FDD‑LTE基站电磁辐射变化周期检测方法,其步骤如下:将FDD‑LTE基站电磁辐射强度时间序列f(t)代入周期变换公式进行变换,获得不同尺度下的周期变换系数W(a),再将求得的FDD‑LTE基站电磁辐射序列周期变换系数W(a)的平方进行积分,得到周期变换系数W(a)的方差序列Var(a),然后再将求得的方差序列Var(a)求导,当导数为0时所对应的a,即为FDD‑LTE基站电磁辐射变化存在的主要周期。本发明分析了FDD‑LTE基站电磁辐射变化周期检测的方法,该方法能够有效的对FDD‑LTE基站电磁辐射变化周期进行检测,具有一定的社会效益。

著录项

  • 公开/公告号CN108923870A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-11-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 湘潭大学;

    申请/专利号CN201810454864.9

  • 申请日2018-05-14

  • 分类号H04B17/318(20150101);H04B17/336(20150101);H04B17/345(20150101);G01R29/08(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 411100 湖南省湘潭市雨湖区湘潭大学信息工程学院

  • 入库时间 2023-06-19 07:32:28

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-12-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):H04B17/318 申请日:20180514

    实质审查的生效

  • 2018-11-30

    公开

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