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一种非平行条件下三维测量系统结构参数快速标定方法

摘要

本发明公开了一种非平行条件下三维测量系统结构参数快速标定方法,其优点可实现在投影仪镜头和面阵相机镜头连线与标定平面为非平行条件下构建出投影条纹相位与待测物体表面高度的数学模型,同时通过一种快速标定方法获取测量系统数学模型中的结构参数值,相比于现有标定方法有效地提高了精度;过程为:(1)建立非平行条件下投影条纹相位与被测物体表面高度的数学模型;(2)通过面阵相机采集标定平面位于初始位置的条纹图像;(3)求取标定平面在初始位置上的条纹相位值;(4)通过面阵相机采集标定平面位于不同位置的条纹图像;(5)求取标定平面在不同位置上的条纹相位值;(6)将相位差值输入至数学模型中,联立求解出系统结构参数。

著录项

  • 公开/公告号CN108955559A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-12-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津工业大学;

    申请/专利号CN201810275219.0

  • 申请日2018-03-26

  • 分类号G01B11/24(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 300387 天津市西青区宾水西道399号

  • 入库时间 2023-06-19 07:30:52

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-01-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/24 申请日:20180326

    实质审查的生效

  • 2018-12-07

    公开

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