基于悬臂梁应变的F-P微位移测量系统线性度比对装置和方法

摘要

本发明公开了基于悬臂梁应变测量的F‑P标准具微位移测量系统的线性度比对装置与方法。包括面阵器件、F‑P标准具干涉测量系统、应力加载系统、矩形等截面梁、悬臂梁固定结构和支架。支架一端固定在光学平台上，F‑P标准具干涉测量系统放置在其上方；面阵器件固定在矩形等截面梁上，矩形等截面梁的一端用悬臂梁固定结构固定在光学隔振平台上；通过应力加载系统改变应力F的大小，用F‑P标准具干涉测量系统和悬臂梁挠度计算公式计算相应的位移量，通过对二者线性度曲线的比较完成F‑P标准具微位移测量系统的线性度比对。本发明具有测量运算简单，测量精细，准确度高等特点。