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一种基于长短基线干涉仪测向体制的基线选取方法

摘要

本发明公开了一种基于长短基线干涉仪测向体制的基线选取方法,利用长短基线干涉仪测角原理结合MATLAB仿真进行长短基线解模糊测角建模和仿真,通过设置不同频率、被测角度等系统参数,分析不同基线尺寸组合下的干涉仪解模糊能力,给出长短基线测角模型在已知工作频带下的最佳基线尺寸结构配置即在给定系统工作频率范围和测角范围前提下,通过选取恰当的长短基线的尺寸关系,使测向系统拥有最宽的基线相位误差容限,以此提高存在较大相位误差情况下该类型干涉仪测角无模糊的成功率,改善采用长短基线干涉仪测向体制的测向系统在实际应用中受系统和环境等因素影响时的测向性能。

著录项

  • 公开/公告号CN108875099A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-11-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京遥感设备研究所;

    申请/专利号CN201710327780.4

  • 发明设计人 马家宁;陈泽礼;何成;

    申请日2017-05-11

  • 分类号G06F17/50(20060101);

  • 代理机构11024 中国航天科工集团公司专利中心;

  • 代理人张国虹

  • 地址 100854 北京市海淀区永定路50号

  • 入库时间 2023-06-19 07:20:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-12-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/50 申请日:20170511

    实质审查的生效

  • 2018-11-23

    公开

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