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全介质像素式全斯托克斯成像偏振器件的制备方法

摘要

本发明提供了一种全介质像素式全斯托克斯成像偏振器的制备方法,偏振器包括透光基底以及位于基底上的半导体介质层;介质层由超像素单元阵列组成;超像素单元包括0°趋向的线栅结构、45°趋向的线栅结构、90°趋向的介质线栅结构和一个Z型通孔结构单元阵列构成;其中得到的全介质像素式全斯托克斯成像偏振器线偏振片的透过率在1.40μm‑1.60μm接近100%,消光比20dB以上,最高可到70dB;其圆二色性在1.50μm‑1.61μm波段平均在70%以上,在1.53μm处圆二色性最高可达到98.3%。本发明具有波段较宽,结构简单,易于制作的特点,在以后的光学传感系统、先进的纳米光子器件以及集成光学系统中,具有很大的应用价值。

著录项

  • 公开/公告号CN108845384A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-11-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 苏州大学;

    申请/专利号CN201810691569.5

  • 申请日2016-08-29

  • 分类号G02B5/30(20060101);

  • 代理机构32103 苏州创元专利商标事务所有限公司;

  • 代理人孙周强;陶海锋

  • 地址 215137 江苏省苏州市相城区济学路8号

  • 入库时间 2023-06-19 07:14:02

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-12-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02B5/30 申请日:20160829

    实质审查的生效

  • 2018-11-20

    公开

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