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单电阻电流采样移项控制方法、装置、设备及存储介质

摘要

本发明公开一种单电阻电流采样移项控制方法、装置、设备及存储介质,单电阻电流采样移项控制方法通过获取目标逆变电路中逆变桥一采样周期的两相的电流矢量脉宽,对第一相电流矢量脉宽及第二相电流矢量脉宽进行求和后作为目标矢量脉宽,将目标矢量脉宽与不同预设矢量脉宽区间分别进行比较;根据比较结果对预设脉冲控制信号进行移相。本发明技术方案,对电流采样的区域进行分区,根据目标矢量脉宽落入不同的区域,对根据比较结果对预设脉冲控制信号进行移相,使得实现单电阻全区域的电流采样。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-06-09

    授权

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  • 2018-11-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):H02P21/22 申请日:20180615

    实质审查的生效

  • 2018-10-26

    公开

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说明书

技术领域

本发明涉及变频技术领域,特别涉及单电阻电流采样移项控制方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

变频空调室外压缩机中用到的永磁同步电机控制系统,由于温度高、湿度大等使得系统无法安装上述测量器件,这些影响了永磁同步电机驱动系统的推广应用。因此需要找到一种更加简便有效的电流检测方法,而相对于霍尔电流传感器,采用单电阻采样相电流重构方法进行电流检测,其电路结构极其简单,成本低,体积小,十分适用于对成本要求较高的应用场合。

单电阻采样相电流重构方法,是指在直流母线上串联一个电流采样电阻,通过对母线电流瞬时值与开关状态的分析,得到两相电流,通过重构的方法得到第三相电流。

现有专利技术(公布号CN201310477423.8)公开了一种单电阻采样时间补偿方法。该方法没有考虑某些电流采样失效的特殊区域,不能实现全区域电流采样。

发明内容

本发明的主要目的是提供一种单电阻电流采样移项控制方法,旨在实现单电阻全区域的电流采样。

为实现上述目的,本发明提出的单电阻电流采样移项控制方法,该方法包括:

获取目标逆变电路中逆变桥一采样周期的两相电流矢量脉宽,所述两相电流矢量脉宽分为第一相电流矢量脉宽及第二相电流矢量脉宽;

对所述第一相电流矢量脉宽及第二相电流矢量脉宽进行求和,将求和结果作为目标矢量脉宽;

将所述目标矢量脉宽与不同的预设矢量脉宽区间分别进行比较,根据比较结果对预设脉冲控制信号进行移相,其中预设脉冲控制信号包括输出至所述逆变桥的三路脉冲控制信号的至少其中之一。

优选地,在所述获取逆变桥每个采样周期的两相电流矢量脉宽之前,所述方法还包括:

根据所述目标逆变电路的采样死区时间、母线电流稳定时间及采样保持时间确定最小检测脉宽;

根据所述最小检测脉宽确定各预设矢量脉宽区间。

优选地,将所述目标矢量脉宽与多个预设矢量脉宽阈值进行比较;根据比较结果对预设脉冲控制信号进行移相,具体包括:

在所述目标矢量脉宽大于三倍的最小检测脉宽、第一相电流矢量脉宽大于最小检测脉宽且第二相电流矢量脉宽大于最小检测脉宽时,不对预设脉冲控制信号进行移相。

优选地,将所述目标矢量脉宽与多个预设矢量脉宽阈值进行比较;根据比较结果对预设脉冲控制信号进行移相,具体包括:

在所述目标矢量脉宽大于三倍的最小检测脉宽、第一相电流矢量脉宽小于最小检测脉宽且第二相电流矢量脉宽大于最小检测脉宽时,对预设脉冲控制信号向右移相,其中移相的脉宽为最小检测脉宽,预设脉冲控制信号为三相脉冲控制信号中占空比居中者。

优选地,将所述目标矢量脉宽与多个预设矢量脉宽阈值进行比较;根据比较结果对预设脉冲控制信号进行移相,具体包括:

在所述目标矢量脉宽大于三倍的最小检测脉宽、第一相电流矢量脉宽大于最小检测脉宽且第二相电流矢量脉宽小于最小检测脉宽时,对预设脉冲控制信号向左移相,其中移相的脉宽为最小检测脉宽,预设脉冲控制信号为三相脉冲控制信号中占空比居中者。

优选地,将所述目标矢量脉宽与多个预设矢量脉宽阈值进行比较;根据比较结果对预设脉冲控制信号进行移相,具体包括:

在所述目标矢量脉宽小于三倍的最小检测脉宽且大于二倍的最小检测脉宽,第一相电流矢量脉宽大于最小检测脉宽且第二相电流矢量脉宽大于最小检测脉宽时,不对预设脉冲控制信号进行移相。

优选地,将所述目标矢量脉宽与多个预设矢量脉宽阈值进行比较;根据比较结果对预设脉冲控制信号进行移相,具体包括:

在所述目标矢量脉宽小于三倍的最小检测脉宽且大于二倍的最小检测脉宽,第一相电流矢量脉宽小于最小检测脉宽且第二相电流矢量脉宽大于最小检测脉宽时,对预设脉冲控制信号向右移相,其中移相的脉宽为最小检测脉宽,预设脉冲控制信号为三相脉冲控制信号中占空比居中者。

优选地,将所述目标矢量脉宽与多个预设矢量脉宽阈值进行比较;根据比较结果对预设脉冲控制信号进行移相,具体包括:

在所述目标矢量脉宽小于三倍的最小检测脉宽且大于二倍的最小检测脉宽,第一相电流矢量脉宽大于最小检测脉宽且第二相电流矢量脉宽小于最小检测脉宽时,对预设脉冲控制信号向左移相,其中移相的脉宽为最小检测脉宽,预设脉冲控制信号为三相脉冲控制信号中占空比居中者。

优选地,将所述目标矢量脉宽与多个预设矢量脉宽阈值进行比较;根据比较结果对预设脉冲控制信号进行移相,具体包括:

在所述目标矢量脉宽小于二倍的最小检测脉宽且大于最小检测脉宽,判断上次电流检测阶段对应的是第一相电流矢量脉宽或第二相电流矢量脉宽;

当上次电流检测阶段对应的是第二相电流矢量脉宽,且第一相电流矢量脉宽大于最小检测脉宽时,不对预设脉冲控制信号进行移相;

当上次电流检测阶段对应的是第二相电流矢量脉宽,且第一相电流矢量脉宽小于最小检测脉宽时,对预设脉冲控制信号向右移相,其中移相的脉宽为最小检测脉宽,预设脉冲控制信号为三相脉冲控制信号中占空比居中者。

优选地,将所述目标矢量脉宽与多个预设矢量脉宽阈值进行比较;根据比较结果对预设脉冲控制信号进行移相,具体包括:

在所述目标矢量脉宽小于二倍的最小检测脉宽且大于最小检测脉宽,判断上次电流检测阶段对应的是第一相电流矢量脉宽或第二相电流矢量脉宽;

当上次电流检测阶段对应的是第一相电流矢量脉宽,且第二相电流矢量脉宽大于最小检测脉宽时,不对预设脉冲控制信号进行移相;

当上次电流检测阶段对应的是第一相电流矢量脉宽,且第二相电流矢量脉宽小于最小检测脉宽时,对预设脉冲控制信号向左移相,其中移相的脉宽为最小检测脉宽,预设脉冲控制信号为三相脉冲控制信号中占空比居中者。

优选地,将所述目标矢量脉宽与多个预设矢量脉宽阈值进行比较;根据比较结果对预设脉冲控制信号进行移相,具体包括:

所述目标矢量脉宽小于最小检测脉宽且大于二分之一的最小检测脉宽时,判断上次电流检测阶段对应的是第一相电流矢量脉宽或第二相电流矢量脉宽;

当上次电流检测阶段对应的是第二相电流矢量脉宽,对预设脉冲控制信号向右移相,其中移相的脉宽为最小检测脉宽,预设脉冲控制信号为三相脉冲控制信号中占空比居中者及最大者;

当上次电流检测阶段对应的是第一相电流矢量脉宽,预设脉冲控制信号为三相脉冲控制信号中占空比居中者及最大者,对占空比居中的预设脉冲控制信号向左移相,其中移相的脉宽为最小检测脉宽;对占空比最大的预设脉冲控制信号向右移相,移相的脉宽为最小检测脉宽。

优选地,将所述目标矢量脉宽与多个预设矢量脉宽阈值进行比较;根据比较结果对预设脉冲控制信号进行移相,具体包括:

所述目标矢量脉宽小于二分之一的最小检测脉宽时,不对预设脉冲控制信号进行移相。

为实现上述目的,本发明还提出一种单电阻电流采样移项控制装置,所述一种单电阻电流采样移项控制装置:

采样模块:用于获取目标逆变电路中逆变桥一采样周期的两相电流矢量脉宽,所述两相电流矢量脉宽分为第一相电流矢量脉宽及第二相电流矢量脉宽;

求和模块,用于对所述第一相电流矢量脉宽及第二相电流矢量脉宽进行求和,将求和结果作为目标矢量脉宽;

移相模块,用于将所述目标矢量脉宽与不同的预设矢量脉宽区间分别进行比较,根据比较结果对预设脉冲控制信号进行移相,其中预设脉冲控制信号包括输出至所述逆变桥的三路脉冲控制信号的至少其中之一。

本发明还提出一种单电阻电流采样移项控制设备,所述单电阻电流采样移项控制设备包括:存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的单电阻电流采样移项控制程序,所述单电阻电流采样移项控制程序配置为如上所述的单电阻电流采样移项控制方法的步骤。

本发明还提出一种存储介质,所述存储介质上存储有单电阻电流采样移项控制程序,所述单电阻电流采样移项控制程序被处理器执行时如上所述的单电阻电流采样移项控制方法的步骤。

本发明技术方案通过获取目标逆变电路中逆变桥每个采样周期的两相的电流矢量脉宽,对第一相电流矢量脉宽及第二相电流矢量脉宽进行求和得到目标矢量脉宽,将所述目标矢量脉宽与不同预设矢量脉宽区间的预设矢量脉宽阈值进行比较;根据比较结果对预设脉冲控制信号进行移相。本发明技术方案,对电流采样的区域进行分区,根据目标矢量脉宽落入不同的区域,对根据比较结果对预设脉冲控制信号进行移相,使得实现单电阻全区域的电流采样。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为单电阻电流采样一实施例的系统控制框图;

图2为单电阻电流采样一实施例的结构示意图;

图3为本发明单电阻电流采样移项控制方法一实施例的第一流程图;

图4为本发明单电阻电流采样移项控制方法一实施例的第二流程图;

图5为本发明新型单电阻AD采样一实施例的时序图;

图6为本发明本发明单电阻电流采样移相控制一实施例的时序图;

图7为本发明本发明单电阻电流采样移项控制装置一实施例的功能模块图。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。

本发明提出一种单电阻电流采样移项控制方法。参照图1及图2,该方法基于一种现有的电机变频器上。该电机变频器采用的是交-直-交电压型变频器。该变频器包括整流模块、储能模块及逆变模块,其中逆变模块包括用于采样的单电阻。利用母线上串联电阻实现单电阻相电流采样,通过对母线电流瞬时值与开关状态的分析,重构出电机三相电流;将三相电流经过克拉克变换(Clark)、帕克变换(park)后得到d轴电流及q轴电流,分布与转速PI输出及最大电流转矩比(MTPA)控制输出的电流合成后在进行PI控制,再进行Clark-park逆变换、SVPWM、六路PWM输出,形成一个转速、电流双闭环的控制系统。

参照图3,在本发明实施例中,该该方法包括:

S300:获取目标逆变电路中逆变桥一采样周期的两相电流矢量脉宽,所述两相电流矢量脉宽分为第一相电流矢量脉宽及第二相电流矢量脉宽。

本实施例中,变频器的逆变桥采用的是普通的三相全桥,由六个开关器件构成的三个半桥。这六个开关器件组合起来(同一个桥臂的上下半桥的信号相反)共有8种安全的开关状态。其中000、111(这里是表示三个上桥臂的开关状态)这两种开关状态在电机驱动中都不会产生有效的电流。因此称其为零矢量。另外6种开关状态分别是六个有效矢量。它们将360度的电压空间分为60度一个扇区,共六个扇区,利用这六个基本有效矢量和两个零量,可以合成360度内的任何矢量。该步骤中的任意两相的电流矢量脉宽是指六个基本有效矢量和两个零量中的两个电流矢量的脉宽。

S400:对所述第一相电流矢量脉宽及第二相电流矢量脉宽进行求和,将求和结果作为目标矢量脉宽。

例如第一相电流矢量脉宽为6微秒,第二相电流矢量脉宽为5微秒,则经过求和得到的目标矢量脉宽为11微秒。

S500:将所述目标矢量脉宽与不同的预设矢量脉宽区间分别进行比较,根据比较结果对预设脉冲控制信号进行移相,其中预设脉冲控制信号包括输出至所述逆变桥的三路脉冲控制信号的至少其中之一。

通常逆变桥的三路脉冲控制信号的占空比不相同,根据占空比大小可分为居中占空比PWM控制信号、最大占空比PWM控制信号及最小占空比PWM控制信号。本实施例中,将求和后的矢量脉宽与不同预设矢量脉宽区间的预设矢量脉宽阈值进行比较,根据比较结果将占空比居中的PWM控制信号进行左右平移或者将占空比最大的PWM控制信号进行左右平移,以留出足够的采样时间,以解决非观测区域的电流采样问题。本实施例中的向左移相是指时序上滞后移相,向右移相是指时序上超前移相。

本实施例中,对单电阻进行移相控制处理,对矢量输出的PWM波进行采样脉宽求和,并与预设矢量脉宽阈值进行分类对比,并根据不同条件对占空比居中的PWM控制信号及占空比最大的PWM控制信号进行左右平移,实现相位的补偿。

本发明技术方案通过获取目标逆变电路中逆变桥每个采样周期的两相的电流矢量脉宽,对第一相电流矢量脉宽及第二相电流矢量脉宽进行求和得到目标矢量脉宽,将所述目标矢量脉宽与不同预设矢量脉宽区间的预设矢量脉宽阈值进行比较;根据比较结果对预设脉冲控制信号进行移相。本发明技术方案,对电流采样的区域进行分区,根据目标矢量脉宽落入不同的区域,对根据比较结果对预设脉冲控制信号进行移相,使得实现单电阻全区域的电流采样。

参照图4,进一步地,在所述获取逆变桥每个采样周期的两相电流矢量脉宽之前,所述方法还包括:

S100:根据所述目标逆变电路的采样死区时间、母线电流稳定时间及采样保持时间确定最小检测脉宽。

本实施例中,最小检测脉宽由采样死区时间、母线电流稳定时间及采样保持时间这三个时间参数决定,具体地最小检测脉宽等于采样死区时间、母线电流稳定时间及采样保持时间这三个时间参数之和。例如,最小检测脉宽为Tn,采样死区时间为T1、母线电流稳定时间为T2及采样保持时间为T3,则Tn=T1+T2+T3。当变频器的型号确定后,其采样死区时间、母线电流稳定时间及采样保持时间都是确定的。

S200:根据所述最小检测脉宽确定各预设矢量脉宽区间。值得说明的是,当最小检测脉宽确定后,通过预设规则得到多个预设矢量脉冲阈值。例如,令最小检测脉宽为Tmin,则将三倍的最小检测脉宽,即Tmin×3作为一个预设矢量脉冲阈值。预设矢量脉冲阈值还可以是Tmin×2、Tmin、Tmin×1/2等。

通过这些预设矢量脉冲阈值,形成多个区间,从而将目标矢量脉宽进行分类。

本实施中,目标矢量脉宽包括以下分类,即a1~a3、b1~b3、c1~c2、d1~d2及e;令采样的第一相电流矢量脉宽为Ta,第一相电流矢量脉宽Ta对应的脉宽采样时间为s1;第二相电流矢量脉宽为Tb,第二相电流矢量脉宽为Tb对应的脉宽采样时间为s2。

参照图5、图6,具体地,将所述目标矢量脉宽与多个预设矢量脉宽阈值进行比较;根据比较结果对预设脉冲控制信号进行移相,具体包括:

(a1):在所述目标矢量脉宽大于三倍的最小检测脉宽、第一相电流矢量脉宽大于最小检测脉宽且第二相电流矢量脉宽大于最小检测脉宽时,不对预设脉冲控制信号进行移相。

在此条件上,电机能正常检测到两相电流,此时不需要进行移相。

具体地,将所述目标矢量脉宽与多个预设矢量脉宽阈值进行比较;根据比较结果对预设脉冲控制信号进行移相,具体包括:

(a2):在所述目标矢量脉宽大于三倍的最小检测脉宽、第一相电流矢量脉宽小于最小检测脉宽且第二相电流矢量脉宽大于最小检测脉宽时,对预设脉冲控制信号向右移相,其中移相的脉宽为最小检测脉宽,预设脉冲控制信号为三相脉冲控制信号中占空比居中者。

此时Ta对应的s1脉宽采样时间太窄,Ta对应的s2脉宽可以正常采样,因此需要对s1进行扩宽,对中间的占空比的PWM控制信号进行向右平移,直至Ta对应的s1等于最小检测脉宽Tmin,此时再在上溢前进行采样更新。但若Ta对应的s1比较值在达到接近或等于下溢处时则表明Ta对应的s1无法采样,此时对应的Ta和Tb均无法采样,此时不进行移相处理。

具体地地,将所述目标矢量脉宽与多个预设矢量脉宽阈值进行比较;根据比较结果对预设脉冲控制信号进行移相,具体包括:

(a3):在所述目标矢量脉宽大于三倍的最小检测脉宽、第一相电流矢量脉宽大于最小检测脉宽且第二相电流矢量脉宽小于最小检测脉宽时,对预设脉冲控制信号向左移相,其中移相的脉宽为最小检测脉宽,预设脉冲控制信号为三相脉冲控制信号中占空比居中者。

图5中,AD1和AD2为电流采样的两个时间点。此时Tb对应的s2脉宽采样时间太窄,Ta对应的s1脉宽可以正常采样,因此需要对s2进行扩宽,对中间的占空比的PWM控制信号进行向左平移,直至Tb对应的s2脉宽等于最小检测脉宽Tmin,此时再在下溢前进行采样更新。但若Tb对应的s2比较值在达到接近或等于上溢处时则表明Tb对应的s2无法采样,此时对应的Ta和Tb均无法采样,此种情况下Ta和Tb都不进行移相处理。

具体地,将所述目标矢量脉宽与多个预设矢量脉宽阈值进行比较;根据比较结果对预设脉冲控制信号进行移相,具体包括:

(b1):在所述目标矢量脉宽小于三倍的最小检测脉宽且大于二倍的最小检测脉宽,第一相电流矢量脉宽大于最小检测脉宽且第二相电流矢量脉宽大于最小检测脉宽时,不对预设脉冲控制信号进行移相。

在此条件上,电机能正常检测到两相电流,此时不需要进行移相。

具体地,将所述目标矢量脉宽与多个预设矢量脉宽阈值进行比较;根据比较结果对预设脉冲控制信号进行移相,具体包括:

(b2):在所述目标矢量脉宽小于三倍的最小检测脉宽且大于二倍的最小检测脉宽,第一相电流矢量脉宽小于最小检测脉宽且第二相电流矢量脉宽大于最小检测脉宽时,对预设脉冲控制信号向右移相,其中移相的脉宽为最小检测脉宽,预设脉冲控制信号为三相脉冲控制信号中占空比居中者。

此时Ta对应的s1脉宽采样时间太窄,Tb对应的s2脉宽可以正常采样,因此需要对s1进行扩宽,对中间的占空比的PWM控制信号进行向右平移,直至Ta对应的s1脉宽等于最小检测脉宽Tmin,此时再在上溢前进行采样更新,这样即可采样到两相电流。但若Ta对应的s1比较值在达到接近或等于下溢处时则表明Ta对应的s1无法采样,此时对应的Ta和Tb均无法采样,此时不进行移相处理。

具体地,将所述目标矢量脉宽与多个预设矢量脉宽阈值进行比较;根据比较结果对预设脉冲控制信号进行移相,具体包括:

(b3):在所述目标矢量脉宽小于三倍的最小检测脉宽且大于二倍的最小检测脉宽,第一相电流矢量脉宽大于最小检测脉宽且第二相电流矢量脉宽小于最小检测脉宽时,对预设脉冲控制信号向左移相,其中移相的脉宽为最小检测脉宽,预设脉冲控制信号为三相脉冲控制信号中占空比居中者。

此时Tb对应的s2脉宽采样时间太窄,Ta对应的s1脉宽可以正常采样,因此需要对s2进行扩宽,对中间的占空比的PWM控制信号进行向左平移,直至Tb对应的s2脉宽等于最小检测脉宽Tmin,此时再在下溢前进行采样更新,这样即可采样到两相电流。但若Tb对应的s2比较值在达到接近或等于上溢处时则表明Tb对应的s2无法采样,此时对应的Ta和Tb均无法采样,此种情况下Ta和Tb都不进行移相处理。

具体地,将所述目标矢量脉宽与多个预设矢量脉宽阈值进行比较;根据比较结果对预设脉冲控制信号进行移相,具体包括:

(c1):在所述目标矢量脉宽小于二倍的最小检测脉宽且大于最小检测脉宽,判断上次电流检测阶段对应的是第一相电流矢量脉宽或第二相电流矢量脉宽;此种情况下仅能检测到其中一相电流,若这种情况连续出现,此时电流检测必须交替检测,具体实现如下。

当上次电流检测阶段对应的是第二相电流矢量脉宽,且第一相电流矢量脉宽大于最小检测脉宽时,不对预设脉冲控制信号进行移相。此种情况不需要移动,电机能检测得到Ta对应的相电流,Tb则无法采样。

当上次电流检测阶段对应的是第二相电流矢量脉宽,且第一相电流矢量脉宽小于最小检测脉宽时,对预设脉冲控制信号向右移相,其中移相的脉宽为最小检测脉宽,预设脉冲控制信号为三相脉冲控制信号中占空比居中者。

此时Ta对应的s1脉宽采样时间太窄,因此需要对s1进行扩宽,对中间占空比的PWM控制信号向右平移,直至Ta对应的s1脉宽等于最小检测脉宽Tmin,此时再在上溢前进行采样更新,这样即可采样得到Ta对应的s1矢量电流。但若Ta对应的s1比较值在达到接近或等于下溢处(undowflow)或Tb对应的s2比较值在达到接近或等于上溢处(overflow)时,则表明Ta对应的s1无法采样。

具体地,将所述目标矢量脉宽与多个预设矢量脉宽阈值进行比较;根据比较结果对预设脉冲控制信号进行移相,具体包括:

(c2):在所述目标矢量脉宽小于二倍的最小检测脉宽且大于最小检测脉宽,判断上次电流检测阶段对应的是第一相电流矢量脉宽或第二相电流矢量脉宽;

当上次电流检测阶段对应的是第一相电流矢量脉宽,且第二相电流矢量脉宽大于最小检测脉宽时,不对预设脉冲控制信号进行移相。此种情况不需要移相,电机能检测得到Tb对应的相电流,Ta对应的相电流则无法采样。

当上次电流检测阶段对应的是第一相电流矢量脉宽,且第二相电流矢量脉宽小于最小检测脉宽时,对预设脉冲控制信号向左移相,其中移相的脉宽为最小检测脉宽,预设脉冲控制信号为三相脉冲控制信号中占空比居中者。

此时Tb对应的s2脉宽采样时间太窄,因此需要对s2进行扩宽,对中间占空比的PWM控制信号向左平移,直至Tb对应的s2脉宽等于最小检测脉宽Tmin,此时再在下溢前进行采样更新,这样即可采样得到Tb对应的s2矢量电流。但若Tb对应的s2比较值在达到接近或等于上溢(overflow)处或Ta对应的s1比较值在达到接近或等于下溢处(underflow)时则表明Tb对应的s2无法采样。

若此种情况Tb对应的s2矢量电流无法检测,检测Ta对应的s1能否检测并在c1~c2之间交替进行循环检测。

具体地,将所述目标矢量脉宽与多个预设矢量脉宽阈值进行比较;根据比较结果对预设脉冲控制信号进行移相,具体包括:

(d):所述目标矢量脉宽小于最小检测脉宽且大于二分之一的最小检测脉宽时,判断上次电流检测阶段对应的是第一相电流矢量脉宽或第二相电流矢量脉宽。此种情况将检测得到的占空比最大者的PWM控制信号向右移相,并执行当前电流检测(即将移相的这一相电流检测出来)。若此种情况连续出现,此时电流检测必须交替循环检测。(移动时若Ta对应的s1比较值在达到接近或等于下溢(undowflow)处或Tb对应的s2比较值在达到接近或等于上溢处(overflow)时则表明最大相的脉宽太窄,电机电流无法检测,此时Ta对应的s1及Tb对应的s2矢量电流均无法检测,无法移相)。具体实现如下:

当上次电流检测阶段对应的是第二相电流矢量脉宽,对预设脉冲控制信号向右移相,其中移相的脉宽为最小检测脉宽,预设脉冲控制信号为三相脉冲控制信号中占空比居中者及最大者;此时Ta对应的s1脉宽采样时间太窄,因此需要对s1进行扩宽,对中间和最大的占空比的PWM控制信号进行向右平移,直至Ta对应的s1脉宽等于最小检测脉宽Tmin,此时再在上溢前进行采样更新,这样即可采样得到Ta对应的s1矢量电流。但若Ta对应的s1比较值在达到接近或等于下溢(undowflow)处或Tb对应的s2比较值在达到接近或等于上溢处(overflow)时则表明Ta对应的s1无法采样。若此种情况Ta对应的s1矢量电流无法检测,则检测Tb对应的s2在d1~d2之间交替进行循环检测。

当上次电流检测阶段对应的是第一相电流矢量脉宽,预设脉冲控制信号为三相脉冲控制信号中占空比居中者及最大者,对占空比居中的预设脉冲控制信号向左移相,其中移相的脉宽为最小检测脉宽;对占空比最大的预设脉冲控制信号向右移相,移相的脉宽为最小检测脉宽。

此时Tb对应的s2脉宽采样时间太窄,因此需要对s2进行扩宽,对最大占空比的PWM控制信号进行向右移相,且对中间占空比的PWM控制信号进行向左平移直至Tb对应的s2脉宽等于最小检测脉宽Tmin,此时再在下溢前进行采样更新,这样即可采样得到Tb对应的s2矢量电流。但若在中间占空比向左移动时Tb对应的s2比较值在达到接近或等于下溢(overflow)处或Ta对应的s1比较值在达到接近或等于上溢处(underflow)时则表明Tb对应的s2无法采样。若此种情况Tb对应的s2矢量电流无法检测,则判断Ta对应的s1能否检测,并在d1~d2之间交替进行循环检测。

具体地,将所述目标矢量脉宽与多个预设矢量脉宽阈值进行比较;根据比较结果对预设脉冲控制信号进行移相,具体包括:

(e):所述目标矢量脉宽小于二分之一的最小检测脉宽时,不对预设脉冲控制信号进行移相。若此种情况Ta对应的s1及Tb对应的s2矢量电流均无法检测,无需移相。

参照图7,为实现上述目的,本发明还提出一种单电阻电流采样移项控制装置,所述一种单电阻电流采样移项控制装置:

采样模块10:获取逆变桥每个采样周期的两相电流矢量脉宽,得到第一相电流矢量脉宽及第二相电流矢量脉宽;

求和模块20:对第一相电流矢量脉宽及第二相电流矢量脉宽进行求和得到目标矢量脉宽;

移相模块30:将所述目标矢量脉宽与不同预设矢量脉宽区间的预设矢量脉宽阈值进行比较;根据比较结果对预设脉冲控制信号进行移相,其中预设脉冲控制信号包括三相脉冲控制信号的至少其中之一。

本发明还提出一种单电阻电流采样移项控制设备,所述单电阻电流采样移项控制设备包括:存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的单电阻电流采样移项控制程序,所述单电阻电流采样移项控制程序配置为如上所述的单电阻电流采样移项控制方法的步骤。

本发明还提出一种存储介质,所述存储介质上存储有单电阻电流采样移项控制程序,所述单电阻电流采样移项控制程序被处理器执行时如上所述的单电阻电流采样移项控制方法的步骤。

需要说明的是,在本文中,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。

上述本发明实施例序号仅仅为了描述,不代表实施例的优劣。词语第一、第二、以及第三等的使用不表示任何顺序,可将这些词解释为名称。

通过以上的实施方式的描述,本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现,当然也可以通过硬件,但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中,包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机,计算机,服务器,空调器,或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。

以上所述仅为本发明的优选实施例,并非因此限制本发明的专利范围,凡是在本发明的发明构思下,利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换,或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。

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