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基于同步辐射光源的X射线散斑检测装置及方法

摘要

本发明提供一种基于同步辐射光源的X射线散斑检测装置,用于检测待测元件的波前信息,包括沿光路的走向依次排布的同步辐射光源、单色器、散射体和探测器,单色器和散射体之间为一待测元件安装位置。此外,本发明还提供了两种采用该基于同步辐射光源的X射线散斑检测装置的基于同步辐射光源的X射线散斑检测方法。本发明的基于同步辐射光源的X射线散斑检测装置结合激光散斑检测与同步辐射X射线传播的理论方法,实现对光学元件的在线检测功能;此外,该装置将待测元件设置于散射体与单色器之间,使得该装置在适用于小型待测元件的在线检测同时,还可适用于不可移动的大型反射镜面的在线检测。

著录项

  • 公开/公告号CN108693203A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-10-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院上海应用物理研究所;

    申请/专利号CN201810292831.9

  • 发明设计人 薛莲;李中亮;罗红心;王劼;

    申请日2018-03-30

  • 分类号G01N23/22(20180101);

  • 代理机构31002 上海智信专利代理有限公司;

  • 代理人邓琪

  • 地址 201800 上海市嘉定区嘉罗公路2019号

  • 入库时间 2023-06-19 06:55:48

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-11-16

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/22 申请日:20180330

    实质审查的生效

  • 2018-10-23

    公开

    公开

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