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一种基于辐射计输出电压的目标辐射率的测量方法

摘要

本发明公开了一种基于辐射计输出电压的目标辐射率的测量方法,属于无源微波遥感与探测技术领域,包括:利用辐射计分别对同一位置的金属目标、待测目标、黑体目标进行测量,得到第一电压、第二电压和第三电压;利用第一电压、第二电压和第三电压进行差值分析,得到待测目标的辐射率。本发明能够非接触、被动、且不需要复杂的定标过程,同时还可消除天线旁瓣以及主波束不完全被目标区域覆盖时所引起的误差,从而获取更为准确的、便易的辐射率测量方法,为目标的检测和识别提供信息。

著录项

  • 公开/公告号CN108680262A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-10-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华中科技大学;

    申请/专利号CN201810472195.8

  • 申请日2018-05-16

  • 分类号G01J5/52(20060101);

  • 代理机构42201 华中科技大学专利中心;

  • 代理人李智;曹葆青

  • 地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

  • 入库时间 2023-06-19 06:52:36

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-11-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J5/52 申请日:20180516

    实质审查的生效

  • 2018-10-19

    公开

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