一种基于对消技术的微波部件弱无源互调测试系统及方法

摘要

本发明公开了一种基于对消技术的无源互调测试系统及测试方法，本方法是在常规PIM测试方法的基础上在测试系统中加入对消电路，实现弱无源互调测试功能。本发明能够用来评估微波部件由于结构设计和工艺引起的非线性强弱，为微波产品的PIM产生提供检测方法。