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一种消除本振相位随机干扰的测量方法和装置

摘要

本发明涉及相位测量领域,公开了一种消除本振相位随机干扰的测量方法和装置,通过获取被测射频信号;将所述被测射频信号与扫频本振信号进行k次谐波混频,并测量下变频后信号的中频分量相位值作为第一相位值;根据所述被测射频信号的待测频点,获取扫频本振信号;对所述扫频本振信号进行变频处理,并测量变频后信号的至少一个频率分量的相位值作为第二相位值;根据所述第二相位值,消除扫频本振信号相位随机干扰,以获得所述待测频点的相位值。本发明通过对本振信号进行变频处理,在特定频点上进行相位测量获得本振相位在扫频过程中的随机变化量,以此修正中频相位测量结果。

著录项

  • 公开/公告号CN108627705A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-10-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国计量科学研究院;

    申请/专利号CN201810455864.0

  • 申请日2018-05-14

  • 分类号G01R27/28(20060101);

  • 代理机构11448 北京中强智尚知识产权代理有限公司;

  • 代理人黄耀威

  • 地址 100013 北京市朝阳区北三环东路18号

  • 入库时间 2023-06-19 06:43:16

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-11-02

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R27/28 申请日:20180514

    实质审查的生效

  • 2018-10-09

    公开

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