对TD-SCDMA射频拉远单元的生产测试方法

摘要

对TD-SCDMA射频拉远单元的生产测试方法。利用射频拉远单元的上、下行通道分时复用的工作方式，通过将射频拉远单元与BBU接口处的收/发通道连接形成环回后，由信号源在至少一个时隙将检测信号输入环回通路的一侧发送通路，经环回通路中的FPGA处理后，在至少另一个时隙将该数据向环回通路的另一侧射频拉远系统的发射通路发出，测量经环回通路后射频拉远系统的输出信号，判断射频拉远单元中的被测试上、下行的数据通路和/或操作维护通路是否正常。该方法无需开发其它的测试设备即可完成对硬件通路中的连接、焊接及器件完整性等方面的测试，提高了生产效率。