用于分析位于产品室中的待分析物品的设备

摘要

本发明涉及一种用于分析位于产品室(10)中的待分析物品的设备(1)，包括：设置在探针壳体(2)中的具有周壁(31)的探针主体(3)；至少一个射线源和至少一个光学接收器；探针主体(3)中的至少一个测量窗口(6)，所述测量窗口具有用于测量射线的入口区域(61)和出口区域(62)；和评估单元(7)。探针主体(3)可被引入测量位置处，在所述测量位置处所述测量窗口(6)所在的探针主体(3)的至少一部分穿过探针壳体(2)的开口(21)被插入产品室(10)中以便进行分析。此外，探针主体(3)可被引入缩回位置处，在所述缩回位置处探针主体(3)至少还部分地位于探针壳体(2)的开口(21)的区域中并且与此同时覆盖开口(21)。根据本发明的解决方案，至少一个测量窗口是ATR元件(6)，其中ATR元件(6)布置在束路径中的探针主体(3)的周壁(31)的至少一个子区域中。