公开/公告号CN108520128A
专利类型发明专利
公开/公告日2018-09-11
原文格式PDF
申请/专利权人 北京集创北方科技股份有限公司;
申请/专利号CN201810270103.8
申请日2018-03-29
分类号
代理机构北京成创同维知识产权代理有限公司;
代理人范芳茗
地址 100176 北京市大兴区经济技术开发区景园北街2号56幢
入库时间 2023-06-19 06:28:31
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2018-10-09
实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/50 申请日:20180329
实质审查的生效
2018-09-11
公开
公开
机译: 可测试集成电路,集成电路的可测试设计方法以及存储实现该可测试设计方法的程序的计算机可读介质
机译: 死亡率保险的有效设计方法,个人保险的有效设计方法,死亡率保险和个人保险的有效同时设计方法,以及包括指令在内的计算机可读存储介质存储程序
机译: 记录了半导体集成电路的布局设计系统,半导体集成电路的布局设计方法和计算机可读记录介质,该程序允许计算机执行系统中的特定装置或方法中的特定步骤