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基于足迹特征圆分析年龄的方法

摘要

本发明提供了一种基于足迹特征圆分析年龄的方法,包括:对足迹表面及周边部位进行观察,从整体轮廓和细微的波纹线条中寻找到椭圆或圆的轮廓;根据椭圆的长轴或圆的直径确定年龄,椭圆的长轴或圆的直径允许的误差范围为正负2mm。本发明能够根据现场残余足迹和/或现场重叠足迹的椭圆长轴或圆的直径特征准确推断出嫌疑人年龄。

著录项

  • 公开/公告号CN108508154A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-09-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京和众视野科技有限公司;

    申请/专利号CN201810283958.4

  • 发明设计人 胡书良;胡晓雯;

    申请日2018-04-02

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 100825 北京市门头沟区城子市场街29号1-9号

  • 入库时间 2023-06-19 06:25:45

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-10-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N33/00 申请日:20180402

    实质审查的生效

  • 2018-09-07

    公开

    公开

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