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基于等效斜距的双基地任意构型SAR成像方法

摘要

本发明公开了一种基于等效斜距的双基地任意构型SAR成像方法,本发明的实现步骤是:(1)构建双基等效斜距模型;(2)距离压缩和非空变误差扰动补偿;(3)方位去斜处理;(4)对有畸变的地距进行成像;(5)对成像结果进行空变相位误差与图像畸变的联合补偿;(6)对有畸变的地距成像进行畸变校正。本发明具有在收发平台三轴均存在速度和加速度的情况下,能够对双基合成孔径雷达成像处理实现精确的相位和运动补偿,获得更高聚焦质量的双基合成孔径雷达成像结果。

著录项

  • 公开/公告号CN108490439A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-09-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安电子科技大学;

    申请/专利号CN201810229686.X

  • 申请日2018-03-20

  • 分类号G01S13/90(20060101);

  • 代理机构61205 陕西电子工业专利中心;

  • 代理人田文英;王品华

  • 地址 710071 陕西省西安市雁塔区太白南路2号

  • 入库时间 2023-06-19 06:24:22

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-09-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01S13/90 申请日:20180320

    实质审查的生效

  • 2018-09-04

    公开

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