首页> 中国专利> 基于两级滤波的俯冲段大斜视SAR子孔径成像空变校正方法

基于两级滤波的俯冲段大斜视SAR子孔径成像空变校正方法

摘要

本发明属于雷达信号处理领域,公开了一种基于两级滤波的俯冲段大斜视SAR子孔径成像空变校正方法,建立成像几何模型,对原始回波信号做距离向傅里叶变换,构造距离走动校正和加速度补偿函数,实现预处理;然后将补偿后的信号变换到二维频域,构造第一级频域滤波因子来校正距离包络的空变,将距离向处理后的信号经逆傅里叶变换到方位二维时域,构造高次相位补偿函数,然后将补偿补偿后的信号变换到方位频域,构造第二级频域滤波因子来校正方位多普勒参数的空变,将校正后的信号变换到方位时域,构造方位统一补偿因子以实现方位处理;最后方位处理后的信号经FFT到方位频域,得到最终SAR聚焦图像,以改善方位聚焦深度。

著录项

  • 公开/公告号CN108490441A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-09-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安电子科技大学;

    申请/专利号CN201810251048.8

  • 发明设计人 梁毅;党彦锋;丁金闪;张玉洪;

    申请日2018-03-26

  • 分类号

  • 代理机构西安睿通知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人惠文轩

  • 地址 710071 陕西省西安市太白南路2号

  • 入库时间 2023-06-19 06:24:22

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-12-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01S13/90 申请日:20180326

    实质审查的生效

  • 2018-09-04

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号