采样方法、采样控制方法、采样装置及采样控制系统

摘要

本申请公开了一种采样方法、采样控制方法、采样装置、采样控制装置、采样控制系统及显示装置，用以缩短采样像素单元的亮度信息的时间，进而提高了调整像素单元的亮度的速度，提高了显示面板的亮度均一性。本申请提供的一种采样方法，用于对显示基板上设置的像素单元进行采样，该方法包括：控制器控制多个采样模块同时开启，使得所述控制器控制的多个采样模块能够接收并保存采样通道采样得到的所述像素单元的亮度信息；控制器依次控制一组采样通道同时开启，使得该组采样通道同时进行亮度信息的采样，并将采样到的所述亮度信息通过该组采样通道的输出端传输给与该组采样通道相连的各采样模块。

说明书

技术领域

本申请涉及电学领域，尤其涉及一种采样方法、采样控制方法、采样装置及采样控制系统。

背景技术

当前，显示面板技术，例如有机电致发光面板(Organic Light-Emitting Diode,OLED)技术面临的一大问题是显示面板中各个像素单元的亮度不一致，导致显示面板亮度不均匀，现有技术中通过电学补偿技术对各个像素单元的亮度进行调整。电学补偿技术是通过驱动芯片中的采样模块对各个像素单元进行采样，获取像素单元的亮度信息，再将亮度信息输入到时序控制模块(Timing Controller，T-CON)对像素单元进行亮度调整。而随着驱动芯片集成度越来越高，显示面板的解析度也越来越高，相应地，对驱动芯片采样像素单元的亮度信息的采样速度要求也越来越高，现有技术采用驱动芯片中的采样模块依次对每个像素单元进行采样的方式，需要的采样时间较长。

发明内容

本申请实施例提供了一种一种采样方法、采样控制方法、采样装置及采样控制系统，用以缩短采样像素单元的亮度信息的时间，进而提高了调整像素单元的亮度的速度，提高了显示面板的亮度均一性。

本申请实施例提供一种采样方法，用于对显示基板上设置的像素单元进行采样，该方法包括：

控制器控制多个采样模块同时开启，使得所述控制器控制的多个采样模块能够接收并保存采样通道采样得到的所述像素单元的亮度信息；其中，

每一采样模块与多个采样通道相连，每一采样通道包括输入端和输出端，所述输入端用于采样显示基板上一部分区域的像素单元的亮度信息，所述输出端用于将采样得到的所述亮度信息传输给与该采样通道相连的采样模块；采样模块用于接收并保存采样通道输入的亮度信息；

控制器依次控制一组采样通道同时开启，使得该组采样通道同时进行亮度信息的采样，并将采样到的所述亮度信息通过该组采样通道的输出端传输给与该组采样通道相连的各采样模块；其中，

在同一时刻打开的采样通道为一组采样通道，每组采样通道中的各采样通道分别与不同的采样模块相连。

本申请实施例提供的上述采样方法，通过控制多个采样模块同时对各采样模块对应的像素单元进行亮度信息的采样，用以缩短采样像素单元的亮度信息的时间，进而提高了调整像素单元的亮度的速度，提高了显示面板的亮度均一性。

可选地，本申请实施例提供的上述采样方法，当控制器收到处理器发送的采样模式选择信号时，执行控制多个采样模块同时开启的步骤。

可选地，本申请实施例提供的上述采样方法，该方法还包括：

当控制器收到处理器发送的校准模式选择信号时，控制器控制所述多个采样模块依次开启，使得所述控制器控制的多个采样模块能够接收并保存采样通道的输出端的输出信号；

其中，控制器在控制每一所述采样模块开启后，控制与该采样模块相连的多个采样通道依次开启，使得所述采样通道的输入端依次接收校准源输入的信号，对校准源进行采样；其中，所述校准源用于当控制器收到处理器发送的校准模式选择信号时，给采样通道的输入端提供标准信号。

可选地，本申请实施例提供的上述采样方法，各个所述采样通道的输入端的输入信号相同，均为同一校准源提供的标准信号。

可选地，本申请实施例提供的上述采样方法，所述控制器、采样模块设置在同一采样芯片中，该方法还包括：

当所述控制器确定所属的采样芯片完成采样后，该所述控制器向与该控制器所属的采样芯片级联的下一个采样芯片中的控制器发送级联控制信号，使得下一个采样芯片中的控制器控制所述下一个采样芯片中的多个采样模块依次开启。

可选地，本申请实施例提供的上述采样方法，该方法还包括：

当收到处理器发送的输出指令信号时，控制器控制各个所述采样模块将保存的、来自各个采样通道的信号发送给所述处理器。

可选地，本申请实施例提供的上述采样方法，该方法包括：

处理器确定需要控制器工作在采样模式；

处理器向所述控制器发送采样模式选择信号，用以使得所述控制器控制多个采样模块同时开启，使得所述控制器控制的多个采样模块能够接收并保存采样通道采样得到的像素单元的亮度信息；其中，每一采样模块与多个采样通道相连，每一采样通道包括输入端和输出端，所述输入端用于采样显示基板中一部分区域的像素单元的亮度信息，所述输出端用于将采样得到的所述亮度信息传输给与该采样通道相连的采样模块；采样模块用于接收并保存采样通道输入的亮度信息；以及，使得控制器依次控制一组采样通道同时开启，使得该组采样通道同时进行亮度信息的采样，并将采样到的所述亮度信息通过该组采样模块的输出端传输给与该组采样通道相连的各采样模块；其中，在同一时刻打开的采样通道为一组采样通道，每组采样通道中的各采样通道分别与不同的采样模块相连。

相应地，本申请实施例提供一种采样控制方法，该方法还包括：

处理器确定需要控制器工作在校准模式；

处理器向所述控制器发送校准模式选择信号，用以使得所述控制器控制所述多个采样模块依次开启，使得所述控制器控制的多个采样模块能够接收并保存采样通道的输出端的输出信号；其中，控制器在控制每一所述采样模块开启后，控制与该采样模块相连的多个采样通道依次开启，使得所述采样通道的输入端依次接收校准源输入的信号，对校准源进行采样；其中，所述校准源用于当控制器收到处理器发送的校准模式选择信号时，给采样通道的输入端提供标准信号。

可选地，本申请实施例提供的上述采样控制方法，该方法还包括：

处理器在第一时长后获取控制器控制的采样模块中保存的、来自各个采样通道的采样结果；

处理器向控制器发送输出指令信号，从而获取所述控制器控制的各个所述采样模块保存的各个所述采样通道的输出端的输出信号；

其中，所述第一时长大于或等于所述控制器控制的所有采样模块对应的采样通道完成采样的时长。

可选地，本申请实施例提供的上述采样控制方法，该方法还包括：

对于所述控制器工作在校准模式时提供的采样结果，处理器进行如下校准步骤：

依次接收多个采样模块输入的各个所述采样通道的输出端的输出信号；

根据所述输出信号计算得出所述输出信号的采样均值；

将所述与采样模块相连的各个所述采样通道的输出端的输出信号与所述采样均值进行比较，并根据比较结果得出该采样模块对应的所述采样通道的校准值；

生成并存储所述校准值与所述采样通道的对应关系表。

可选地，本申请实施例提供的上述采样控制方法，该方法还包括：

对于所述控制器工作在采样模式时提供的采样结果，处理器进行如下处理步骤：

在校准值与采样通道的对应关系表中查找所述采样通道对应的预先得到的校准值；

利用所述预先得到的校准值对所述采样通道的采样结果进行校准。

本申请实施例提供的上述采样控制方法，通过利用多个采样通道在校准模式下输入的输出端的输出信号得出该采样通道的校准值，对该采样通道在采样模式下输入的像素单元的亮度信息进行校准，消除了因采样通道和采样模块的寄生参数不同造成的采样误差，提高了采样结果的精准度。

可选地，本申请实施例提供的上述采样控制方法，所述采样均值为对所述输出信号进行正态分布运算得出的均值。

可选地，本申请实施例提供的上述采样控制方法，所述校准值为所述输出信号与所述校准均值的比值。

相应地，本申请实施例提供一种采样装置，用于对显示基板上设置的像素单元进行采样，该装置包括：

第一单元，用于控制多个采样模块同时开启，使得所述多个采样模块能够接收并保存采样通道采样得到的所述像素单元的亮度信息；其中，

每一采样模块与多个采样通道相连，每一采样通道包括输入端和输出端，所述输入端用于采样显示基板上一部分区域的像素单元的亮度信息，所述输出端用于将采样得到的所述亮度信息传输给与该采样通道相连的采样模块；采样模块用于接收并保存采样通道输入的亮度信息；

第二单元，用于依次控制一组采样通道同时开启，使得该组采样通道同时进行亮度信息的采样，并将采样到的所述亮度信息通过该组采样通道的输出端传输给与该组采样通道相连的各采样模块；其中，

在同一时刻打开的采样通道为一组采样通道，每组采样通道中的各采样通道分别与不同的采样模块相连。

可选地，本申请实施例提供的上述采样装置，当所述第一单元收到处理器发送的采样模式选择信号时，执行控制多个采样模块同时开启的步骤。

可选地，本申请实施例提供的上述采样装置，该装置还包括：校准采样单元；

所述校准采样单元用于：

当第一单元收到处理器发送的校准模式选择信号时，所述多个采样模块依次开启，使得所述多个采样模块能够接收并保存采样通道的输出端的输出信号；

其中，第一单元在控制每一所述采样模块开启后，控制与该采样模块相连的多个采样通道依次开启，使得所述采样通道的输入端依次接收校准源输入的信号，对校准源进行采样；其中，所述校准源用于当控制器收到处理器发送的校准模式选择信号时，给采样通道的输入端提供标准信号。

可选地，本申请实施例提供的上述采样装置，各个所述采样通道的输入端的输入信号相同，均为同一校准源提供的标准信号。

可选地，本申请实施例提供的上述采样装置，所述第一单元、采样模块设置在同一采样芯片中，所述校准采样单元还用于：

当所述第一单元确定所属的采样芯片完成采样后，该所述第一单元向与该第一单元所属的采样芯片级联的下一个采样芯片中的第一单元发送级联控制信号，使得下一个采样芯片中的第一单元控制所述下一个采样芯片中的多个采样模块依次开启。

可选地，本申请实施例提供的上述采样装置，该装置还包括：信息输出单元；

所述信息输出单元用于：

当收到处理器发送的输出指令信号时，控制器控制各个所述采样模块将保存的、来自各个采样通道的信号发送给所述处理器。

相应地，本申请实施例提供一种采样控制装置，该装置包括：

第三单元，用于判断控制器需要工作的模式；

第四单元，用于当所述第三单元确定需要控制器工作在采样模式时，向所述控制器发送采样模式选择信号，使得所述控制器控制多个采样模块同时开启，使得所述控制器控制的多个采样模块能够接收并保存采样通道采样得到的像素单元的亮度信息；其中，每一采样模块与多个采样通道相连，每一采样通道包括输入端和输出端，所述输入端用于采样显示基板中一部分区域的像素单元的亮度信息，所述输出端用于将采样得到的所述亮度信息传输给与该采样通道相连的采样模块；采样模块用于接收并保存采样通道输入的亮度信息；以及，使得控制器依次控制一组采样通道同时开启，使得该组采样通道同时进行亮度信息的采样，并将采样到的所述亮度信息通过该组采样模块的输出端传输给与该组采样通道相连的各采样模块；其中，在同一时刻打开的采样通道为一组采样通道，每组采样通道中的各采样通道分别与不同的采样模块相连。

可选地，本申请实施例提供的上述采样控制装置，所述第四单元还用于：

当所述第三单元确定需要控制器工作在校准模式时，向所述控制器发送校准模式选择信号，用以使得所述控制器控制所述多个采样模块依次开启，使得所述控制器控制的多个采样模块能够接收并保存采样通道的输出端的输出信号；其中，控制器在控制每一所述采样模块开启后，控制与该采样模块相连的多个采样通道依次开启，使得所述采样通道的输入端依次接收校准源输入的信号，对校准源进行采样；其中，所述校准源用于当控制器收到处理器发送的校准模式选择信号时，给采样通道的输入端提供标准信号。

可选地，本申请实施例提供的上述采样控制装置，该装置还包括：

发送指示单元，用于：

在第一时长后获取控制器控制的采样模块中保存的、来自各个采样通道的采样结果；

向控制器发送输出指令信号，从而获取所述控制器控制的各个所述采样模块保存的各个所述采样通道的输出端的输出信号；

其中，所述第一时长大于或等于所述控制器控制的所有采样模块对应的采样通道完成采样的时长。

可选地，本申请实施例提供的上述采样控制装置，该装置还包括：计算单元；

对于所述控制器工作在校准模式时提供的采样结果，计算单元进行如下校准步骤：

依次接收多个采样模块输入的各个所述采样通道的输出端的输出信号；

根据所述输出信号计算得出所述输出信号的采样均值；

将所述与采样模块相连的各个所述采样通道的输出端的输出信号与所述采样均值进行比较，并根据比较结果得出该采样模块对应的所述采样通道的校准值；

生成并存储所述校准值与所述采样通道的对应关系表。

可选地，本申请实施例提供的上述采样控制装置，该装置还包括：校准单元；

对于所述驱动芯片工作在采样模式时提供的采样结果，所述校准单元进行如下处理步骤：

在校准值与采样通道的对应关系表中查找所述采样通道对应的预先得到的校准值；

利用所述预先得到的校准值对所述采样通道的采样结果进行校准。

可选地，本申请实施例提供的上述采样控制装置，所述采样均值为对所述输出信号进行正态分布运算得出的均值。

可选地，本申请实施例提供的上述采样控制装置，所述校准值为所述输出信号与所述校准均值的比值。

相应地，本申请实施例提供一种采样控制系统，包括上述任一所述的采样装置。

可选地，本申请实施例提供的上述采样控制系统，还包括上述任一所述的采样控制装置。

相应地，本申请实施例提供一种显示装置，包括上述任一所述的采样控制系统。

附图说明

图1为本申请实施例提供的一种采样方法的采样模式原理示意图；

图2为本申请实施例提供的一种采样方法的采样模式流程示意图；

图3为本申请实施例提供的一种采样方法的采样时序图；

图4为本申请实施例提供的一种采样方法的采样通道分组示意图；

图5为本申请实施例提供的一种采样方法的校准模式流程示意图；

图6为本申请实施例提供的一种采样方法的校准模式流程示意图；

图7为本申请实施例提供的一种采样方法的校准模式采样时序图；

图8为本申请实施例提供的一种采样方法的校准模式传输信号时序图；

图9为本申请实施例提供的一种采样方法的单芯片时的采样时序图；

图10为本申请实施例提供的一种采样方法的单芯片时的采样通道分组示意图；

图11为为本申请实施例提供的一种采样方法的单芯片时的传输信号时序图；

图12为本申请实施例提供的一种采样方法的多芯片时的采样时序图；

图13a为本申请实施例提供的一种采样方法的多芯片时的采样分组示意图之一；

图13b为本申请实施例提供的一种采样方法的多芯片时的采样分组示意图之二；

图14为本申请实施例提供的一种采样方法的多芯片时的采样模式传输信号时序图；

图15为本申请实施例提供的一种采样控制方法的流程示意图；

图16为本申请实施例提供的一种采样控制方法的计算流程示意图；

图17为本申请实施例提供的一种采样装置的结构示意图；

图18为本申请实施例提供的一种采样控制装置的结构示意图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本申请作进一步地详细描述，显然，所描述的实施例仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。

如图1所示，在本申请实施例提供的一种采样方法中，面板(panel)102上设置有多个采样通道(Channel，CH)105，采样通道105分别与设置在显示基板上的像素单元(图中未示出)相连，用以采样像素单元的亮度信息；驱动芯片(Integrated Circuit，IC)103上设置有多个采样模块(Sense)106，每个采样模块106与多个采样通道105相连，用于获取采样通道105输入的像素单元的亮度信息；驱动芯片103还设置有逻辑控制电路107，用于输出控制信号控制采样模块106和/或采样通道105开启；当所有采样模块106完成采样后，驱动芯片103将获取的像素单元的亮度信息输出给时序控制模块(Timing Controller；T-CON)104，T-CON 104利用预设在T-CON 104中算法对接收到的所述像素单元的亮度信息进行校准后，将校准后的亮度信息输出给像素驱动电路(图中未示出)，用以调整像素单元的亮度。

需要说明的是，在本申请实施例中所述的驱动芯片(Integrated Circuit，IC)103可以理解为一种采样芯片，所述逻辑控制电路107可以理解为一种控制器，控制器可以是各种具有控制采样模块及采样通道的器件，T-CON 104可以理解为一种处理器，处理器可以是各种具有计算及存储计算功能结构的器件。

以下以控制器为逻辑电路，处理器为时序控制模块，采样装置为包括控制器、采样模块的驱动芯片为例进行说明，需要说明是的，以下仅为更好地解释本申请原理给出的示例，其中表示控制器、处理器及采样装置的器件不对本申请做出限制。

在控制器侧(即逻辑控制电路侧)，如图2所示，本申请实施例提供一种采样方法，该方法包括：

S201、控制器控制多个采样模块同时开启，使得所述控制器控制的多个采样模块能够接收并保存采样通道采样得到的所述像素单元的亮度信息；其中，

每一采样模块与多个采样通道相连，每一采样通道包括输入端和输出端，所述输入端用于采样显示基板上一部分区域的像素单元的亮度信息，所述输出端用于将采样得到的所述亮度信息传输给与该采样通道相连的采样模块；采样模块用于接收并保存采样通道输入的亮度信息；

S202、控制器依次控制一组采样通道同时开启，使得该组采样通道同时进行亮度信息的采样，并将采样到的所述亮度信息通过该组采样通道的输出端传输给与该组采样通道相连的各采样模块；其中，

在同一时刻打开的采样通道为一组采样通道，每组采样通道中的各采样通道分别与不同的采样模块相连。

以下以控制器为逻辑控制电路，采样装置为设置有逻辑控制电路及采样模块的驱动芯片，处理器为时序控制模块为例进行说明。具体地，例如，在本申请实施例提供的采样方法中，panel 102上设置有M个采样通道105，用于传输像素单元的亮度信息，驱动芯片103上设置有N个采样模块106，用于接收采样通道105输入的像素单元的亮度信息，其中，N≥1，M≥1，N≤M；则每个采样模块106可以对应采样L个采样通道105，即第一个采样模块采样第1～L个采样通道，第二个采样模块采样第L+1～2L个采样通道……第N个采样模块采样第M-L+1～M个采样通道；驱动芯片103中设置有逻辑控制电路107，逻辑控制电路107可以输出控制采样模块106及采样通道105工作的控制信号，控制采样模块106的信号例如可以为模块控制信号SW1，N个采样模块106即对应N个模块控制信号SW1[0]～SW1[N-1]；控制采样通道105的信号例如可以为通道控制信号SW2，每个采样模块106对应控制L个采样通道105，即对应L个通道控制信号SW2[0]～SW2[L-1]。

进一步地，在具体实施时，在本申请实施例提供的采样方法中，如图3所示，T-CON104向所有驱动芯片103输出系统信号SMP控制所有驱动芯片103开始工作，驱动芯片103中的所有逻辑控制电路107同时输出N个模块控制信号SW1[0]～SW1[N-1]，其中，SW1[0]用于控制第1个采样模块106开启，SW1[1]用于控制第2个采样模块106开启，以此类推，SW1[N-1]用于控制第N个采样模块106开启，从而控制N个采样模块106同时开始采样，以获取像素单元的亮度信息，即N个采样模块106从图3中模块控制信号SW1[0]～SW1[N-1]的第一个上升沿时刻同时开始采样；

逻辑控制电路107依次输出L个通道控制信号SW2[0]～SW2[L-1]，控制N个采样模块106同时对各自对应的一个采样通道进行采样，最后使得每一采样模块完成对L个采样通道的采样，并且这N个采样模块是同时完成各自对L个采样通道的采样。具体地，如图4所示，第1个采样模块106对应采样第1～L个采样通道105，第2个采样模块106对应采样第L+1～2L个采样通道105……依次类推，第N个采样模块106对应采样第M-L+1～M个采样通道105；其中，每个采样模块106所对应的采样通道105中的第1个采样通道105组成第1组采样通道X1，每个采样模块106所对应的采样通道105中的第2个采样通道105组成第2组采样通道X2……依次类推，每个采样模块106所对应的采样通道105中的第L个采样通道105组成第L组采样通道XL；逻辑控制电路107依次输出通道控制信号SW2[0]～SW2[L-1]控制每组采样通道105同时开启，即逻辑控制电路107输出模块控制信号SW2[0]给第1组采样通道X1时，每个采样模块106同时对该采样模块106对应的第1个采样通道105进行采样，逻辑控制电路107输出模块控制信号SW2[1]给第2组采样通道X2时，每个采样模块106同时对该采样模块106对应的第2个采样通道105进行采样……依次类推，当逻辑控制电路107输出模块控制信号SW2[L-1]给第L组采样通道XL时，每个采样模块106同时对该采样模块106对应的第L个采样通道105进行采样，这样，采样模块106在图3中模块控制信号SW1[0]～SW1[N-1]的最后一个下降沿完成一回合采样，即完成了所有采样通道的采样，如此，通过控制所有采样模块同时开始对该采样模块对应的采样通道分别进行采样，使得在采样模块对L个采样通道进行采样的时间内，完成对M个采样通道进行采样，极大地缩短了对各像素单元的亮度信息进行采样的时间，进而提高了调整像素单元的亮度的速度，提高了显示面板的亮度均一性。

进一步地，在具体实施时，在本申请实施例提供的采样方法中，每个驱动芯片103对应获取显示面板中不同区域的像素单元的亮度信息，每个驱动芯片103中的采样模块106对应该驱动芯片103所对应的区域中的一行像素单元，每个采样模块106采样的一组采样通道105，对应获取该行像素单元中的每一个像素单元的亮度信息，即在驱动芯片103中的逻辑控制电路107输出一组通道控制信号SW2后，采样模块106完成对该驱动芯片103对应的区域的像素单元的亮度信息的采样，具体地，怎么划分区域可以根据实际需要而定，在此不做限定。

进一步地，在具体实施时，在本申请实施例提供的采样方法中，在采样模块开始采样之前，T-CON向所有驱动芯片同时输出系统信号SMP，控制驱动芯片开始工作。

进一步地，在具体实施时，在本申请实施例提供的采样方法中，在采样模式下，所有采样模块对应的采样通道完成采样后，T-CON可以向驱动芯片中的逻辑控制电路输出输出指令信号TX_STB1，逻辑控制电路控制各个采样模块将保存的、来自各个采样通道的信号发送给T-CON，所述采样通道的信号即采样模块保存的由采用通道采样获得的像素单元的亮度信息，用于调整该驱动芯片中的采样模块所对应的采样通道对应的各像素单元的亮度，若显示面板中包括多个驱动芯片，第一个驱动芯片向T-CON传输完亮度信息后，向第二个驱动芯片输出输出指令信号TX_STB2，使得第二个驱动芯片向T-CON输出获取到的像素单元的亮度信息，依次类推，直到最后一个驱动芯片完成向T-CON传输获取到的像素单元的亮度信息，具体地，驱动芯片将D0～Dn位的亮度信息通过多个脉冲信号输入到T-CON，具体占用多少位来传输数据，可以根据需要设计，在此不做限定。

进一步地，在具体实施时，在本申请实施例提供的采样方法中，T-CON先输出SMP控制所有驱动芯片开始工作，再输出TX_STB1控制所述驱动芯片向T-CON传输数据，T-CON输出TX_STB1与输出SMP的时间间隔大于或等于所有采样模块从开始采样到完成采样的采样时长，例如可以根据采样通道的数量估算一个采样时长，称作第一时长，T-CON向所有芯片输出SMP后开始计时，在计时的第一时长大于或等于所述采样时长后，T-CON输出TX_STB1控制驱动芯片中向T-CON传输驱动芯片中的采样模块获取到的像素单元的亮度信息。

进一步地，在具体实施时，在本申请实施例提供的采样方法中，驱动芯片103可以工作在采样模式和校准模式两个工作模式下，每个驱动芯片103上可以设置一个工作模式选择管脚(PIN)，在驱动芯片103开始工作前，T-CON 104给所述驱动芯片103上的工作模式选择管脚输入一个工作模式选择信号SEN-EN，用于控制该驱动芯片103选择采样模式还是校准模式；具体地，当该驱动芯片103上的PIN接收到的工作模式选择信号SEN-EN为高电平(或低电平)时，即该驱动芯片103接收到T-CON 104发送的采样模式选择信号SEN-EN1时，该驱动芯片103控制该驱动芯片103中的采样模块106进行采样动作，即执行上述步骤S201，控制多个采样模块106同时开启；当该驱动芯片103上的PIN接收到的工作模式选择信号SEN-EN为低电平(或高电平)时，即该驱动芯片103接收到T-CON 104发送的校准模式选择信号SEN-EN2时，该驱动芯片103控制该驱动芯片103中的采样模块106进行校准动作，控制多个采样模块106依次开启，当然，对驱动芯片103进行采样模式及校准模式的选择的方式不止上述这一种方式，可以根据需要设计，只要符合本申请原理都是可行的，在此不作限定。

由于实际应用中，各个采样通道和采样模块的电路元件存在微小的差异，从而导致各个采样通道和采样模块的寄生参数不同，会给采样模块的采样结果带来误差，即在输入采样通道的信号相同的情况下，同一通道被不同的采样模块采样，可能返回不同的值，同一模块采样不同的通道，也可能返回不同的值，因此为了消除误差，可以对采样通道及采样模块进行校准，当驱动芯片103收到T-CON 104发送的校准模式选择信号SEN-EN2，驱动芯片103执行校准模式下的动作。

进一步地，在本申请实施例提供的采样方法中，该方法还包括校准模式，如图5所示，panel 102上设置有多个采样通道105，驱动芯片103上设置有多个采样模块103及逻辑控制电路107，印制电路板(Printed Circuit Board，PCB)101中设置有一个校准源，所述校准源为一个恒定的标准信号，例如可以为一个恒定电流或恒定电压，所有驱动芯片103与PCB 101相连，当收到时序控制模块发送的校准模式选择信号SEN-EN2时，所述校准源作为标准信号，分别输入驱动芯片103中的各采样模块106对应的采样通道105，使得所述采样模块106分别得到该采样模块输出信号；当所有采样模块106分别与校准源完成采样后，采样模块106依次将采集到的各个采样通道105的输出端的输出信号发送给T-CON 104。

进一步地，在具体实施时，在本申请实施例提供的采样方法中，各个所述采样通道的输入端的输入信号相同，均为同一校准源提供的标准信号。具体地，显示面板中只设置一个校准源，即用同一个校准源作为标准信号输入每一所述采样模块及该采样模块所对应的采样通道，通过使每一采样通道的输入端的输入信号相同，保证了校准源的唯一性，排除了由于输入采样通道的信号不同而造成的采样结果的误差，从而进一步提高了采样结果的可靠性。

进一步地，如图6所示，在具体实施时，在本申请实施例提供的采样方法中，该方法还包括：

S1001、当控制器收到处理器发送的校准模式选择信号时，控制器控制所述多个采样模块依次开启，使得所述控制器控制的多个采样模块能够接收并保存采样通道的输出端的输出信号；

S1002、其中，控制器在控制每一所述采样模块开启后，控制与该采样模块相连的多个采样通道依次开启，使得所述采样通道的输入端依次接收校准源输入的信号，对校准源进行采样；其中，所述校准源用于当控制器收到处理器发送的校准模式选择信号时，给采样通道的输入端提供标准信号。

以下以控制器为逻辑控制电路，采样装置为设置有逻辑控制电路及采样模块的驱动芯片，处理器为时序控制模块为例进行说明。

具体地，在本申请实施例提供的采样方法中，同上所述，panel上设置有M个采样通道，用于传输像素单元的亮度信息，驱动芯片上设置有N个采样模块，用于接收采样通道输入的像素单元的亮度信息，其中，N≥1，M≥1，N≤M；则每个采样模块可以对应采样L(L＝M/N)个采样通道，即第一个采样模块采样第1～L个采样通道，第二个采样模块采样第L+1～2L个采样通道……第N个采样模块采样第M-L+1～M个采样通道；驱动芯片中设置有逻辑控制电路，逻辑控制电路可以输出控制采样模块及采样通道工作的控制信号，控制采样模块的信号例如可以为模块控制信号SW1，N个采样模块即对应N个模块控制信号SW1[0]～SW1[N-1]；控制采样通道的信号例如可以为通道控制信号SW2，每个采样模块对应控制L个采样通道，即对应L个通道控制信号SW2[0]～SW2[L-1]；

进一步地，在具体实施时，在本申请实施例提供的采样方法中，如图7中的驱动芯片IC1部分所示，驱动芯片IC1与PCB中的校准源相连，驱动芯片IC1收到T-CON发送的校准模式选择信号SEN-EN2，T-CON输出一个级联控制信号calib1控制驱动芯片IC1开始工作，驱动芯片IC1中的逻辑控制电路开启模块控制信号SW1[0]，控制第1个采样模块开启；逻辑控制电路将L个通道控制信号SW2[0]～SW2[L-1]依次打开，依次控制该采样模块对应的L个采样通道开启，所述校准源作为标准信号依次输入所述采样通道，得到该采样通道的输出端的输出信号，具体地，驱动芯片IC1中的逻辑控制电路输出模块控制信号SW2[0]时，所述校准源作为标准信号输入第1个采样模块对应的第1个采样通道，得到所述第1个采样通道的输出端的输出信号；逻辑控制电路输出模块控制信号SW2[1]时，所述校准源作为标准信号输入第1个采样模块对应的第2个采样通道，得到所述第2个采样通道的输出端的输出信号；依次类推，逻辑控制电路输出模块控制信号SW2[L-1]时，所述校准源作为标准信号输入第1个采样模块对应的第L个采样通道，得到所述第L个采样通道的输出端的输出信号；第1个采样模块完成采样后，逻辑控制电路输出模块控制信号SW1[1]，控制第2个采样模块开启；驱动芯片IC1中的逻辑控制电路将L个通道控制信号SW2[0]～SW2[L-1]依次打开，依次控制第2个采样模块对应的L个采样通道开启，所述校准源作为标准信号依次输入所述采样通道，得到该采样通道的输出端的输出信号，即逻辑控制电路发出模块控制信号SW2[0]时，所述校准源作为标准信号输入第2个采样模块对应的第L+1个采样通道，得到所述第L+1个采样通道的输出端的输出信号；逻辑控制电路输出模块控制信号SW2[1]时，所述校准源作为标准信号输入第2个采样模块对应的第L+2个采样通道，得到所述第L+2个采样通道的输出端的输出信号，依次类推，当逻辑控制电路输出模块控制信号SW2[L-1]时，所述校准源作为标准信号输入第2个采样模块对应的第2L个采样通道，得到所述第2L个采样通道的输出端的输出信号；第2个采样模块完成采样后，逻辑控制电路输出模块控制信号SW1[2]，控制第3个采样模块开始对校准源进行校准信息的采样……依次类推，相应地，第N-1采样模块完成采样后，驱动芯片IC1中的逻辑控制电路输出模块控制信号SW1[N-1]，控制第N个采样模块开启；逻辑控制电路将L个通道控制信号SW2[0]～SW2[L-1]依次打开，依次控制第N个采样模块对应的L个采样通道开启，所述校准源作为标准信号依次输入所述采样通道，得到该采样通道的输出端的输出信号，即逻辑控制电路输出模块控制信号SW2[0]时，所述校准源作为标准信号输入第N个采样模块对应的第M-L+1个采样通道，得到所述第M-L+1个采样通道的输出端的输出信号，逻辑控制电路输出模块控制信号SW2[1]时，所述校准源作为标准信号输入第N个采样模块对应的第M-L+2个采样通道，得到所述第M-L+2个采样通道的输出端的输出信号，依次类推，当逻辑控制电路发出模块控制信号SW2[L-1]时，所述校准源作为标准信号输入第N个采样模块对应的第M个采样通道，得到所述第M个采样通道的输出端的输出信号；第N个采样模块完成采样后，将采集到的各个采样通道的输出端的输出信号发送给T-CON，使得T-CON利用所有采样模块输入的输出信号进行计算，得出一个输出信号的采样均值，将采样模块对应的各个所述采样通道的输出端的输出信号与采样均值进行比较，并根据比较结果得出该采样模块对应的采样通道的校准值，并将该校准值存储在T-CON中。

进一步地，在具体实施时，在本申请实施例提供的采样方法中，当逻辑控制电路确定所属的驱动芯片完成采样后，该所述逻辑控制电路向与该逻辑控制电路所属的驱动芯片级联的下一个驱动芯片中的逻辑控制电路发送级联控制信号，使得下一个驱动芯片中的逻辑控制电路控制所述下一个驱动芯片中的多个采样模块依次开启。具体地，可以由T-CON输出级联控制信号calib1控制第一个驱动芯片开始工作，驱动芯片中的逻辑电路开启模块控制信号SW1，第一个驱动芯片由T-CON控制其开始校准动作，之后的驱动芯片由上一个驱动芯片完成校准动作后，向下一个与该驱动芯片级联的驱动芯片输出级联控制信号calib2控制下一个驱动芯片开始校准动作。进一步地，在具体实施时，在本申请实施例提供的采样方法中，如图7所示，若显示面板包括多个驱动芯片(例如驱动芯片IC1和驱动芯片IC2)，则在第一个驱动芯片IC1完成校准信息的采样后，该驱动芯片IC1向下一驱动芯片IC2发送级联控制信号calib2，控制下一个驱动芯片在calib2第一个下降沿的时刻(图7中竖向虚线与级联信号calib2的相交处)重复上述步骤，对该驱动芯片IC2中的所有采样通道P～Q(P≥1，Q≥1)完成校准动作。

进一步地，在具体实施时，在本申请实施例提供的采样方法中，在校准模式下所有的采样模块对应的采样通道完成采样后，T-CON可以向驱动芯片中的逻辑电路输出输出指令信号TX_STB1，逻辑控制电路控制各个采样模块将保存的、来自各个采样通道的信号发送给T-CON，所述采样通道的信号即采样模块保存的各个所述采样通道的输出端的输出信号，用于对各采样模块及采样通道的进行校准，消除误差，具体地，驱动芯片将D0～Dn位的输出信号通过多个脉冲信号输入到T-CON；若显示面板中包括多个驱动芯片，例如，参见图8，在校准模式下驱动芯片IC1及驱动芯片IC2中的所有采样模块采集完各个所述采样通道的输出端的输出信号后，T-CON向驱动芯片IC1输出输出指令信号TX_STB1控制驱动芯片IC1将D0～Dn位的输出信号通过多个脉冲信号输入到T-CON；驱动芯片IC1向T-CON传输完输出信号后，向驱动芯片IC2输出输出指令信号TX_STB2，使得驱动芯片IC2将D0～Dn位的输出信号通过多个脉冲信号输入到T-CON，具体占用多少位来传输数据，可以根据需要设计，在此不做限定。

进一步地，在具体实施时，在本申请实施例提供的采样方法中，在驱动芯片工作在采样模式或校准模式下的整个采样期间，驱动芯片中的逻辑控制电路持续输出一个复位控制信号START，复位控制信号START的高低电平与通道控制信号SW2的高低电平相反，用于对采样模块进行复位，即START为低电平时，SW2为高电平，采样模块在START的下降沿、SW2的上升沿时刻开始对第一个采样通道进行采样，在SW2为下降沿时，采样模块完成对该采样通道的采样，此时START输出上升沿对采样模块进行复位，为下一次采样做准备。

进一步地，在具体实施时，在本申请实施例提供的采样方法中，所述多个采样模块可以为同一芯片中的采样模块，也可以为不同芯片中的采样模块。如图1所示，显示面板中可以包括多个驱动芯片103，每个驱动芯片103中都可以设置采样模块106，模块控制信号SW1控制的采样模块106可以设置在同一驱动芯片103中，也可以设置在不同驱动芯片103中，具体地可根据实际实施时的需要而设计，在此不做限定。

下面举例说明。

实施例1、

如图9所示，所有采样模块设置在同一驱动芯片中。

例如，显示面板包括一个T-CON、一个驱动芯片，驱动芯片上设置有15个采样模块、一个panel，panel上设置有240个采样通道，即每个采样模块对应对16个采样通道进行采样。

T-CON向驱动芯片上的工作模式选择管脚输出采样模式选择信号SEN-EN1，选择驱动芯片进行采样动作；T-CON向驱动芯片输出系统信号SMP控制驱动芯片开始工作，驱动芯片中的逻辑控制电路开启每个采样模块所对应的模块控制信号SW1[0]～SW1[14]，其中，SW1[0]用于控制第1个采样模块开启，SW1[1]用于控制第2个采样模块开启，以此类推，SW1[14]用于控制第15个采样模块开启，从而控制第1～15个采样模块同时开始采样；逻辑控制电路依次输出16个通道控制信号SW2[0]～SW2[15]，每一个通道控制信号用于控制一组采样通道同时开启，从而控制15个采样模块同时对该采样模块对应的16个采样通道分别进行采样，以获取像素单元的亮度信息，具体地，如图10所示，图10中白色方块表示各采样模块，白色方块中的数字表示在第1～15个采样模块当中该采样模块的编号，黑色方块表示各采样通道，黑色方块中的数字表示在第1～240个采样通道中该采样通道的编号；第1个采样模块对应采样第1～16个采样通道，第2个采样模块对应采样第17～32个采样通道……依次类推，第15个采样模块对应采样第225～240个采样通道；其中，每个采样模块所对应的采样通道中的第1个采样通道组成第1组采样通道Y1，每个采样模块所对应的采样通道中的第2个采样通道组成第2组采样通道Y2……依次类推，每个采样模块所对应的采样通道中的第16个采样通道组成第16组采样通道Y16；逻辑控制电路依次输出通道控制信号SW2[0]～SW2[15]控制每组采样通道同时开启，即逻辑控制电路输出模块控制信号SW2[0]给第1组采样通道Y1时，每个采样模块同时对该采样模块对应的第1个采样通道进行采样，逻辑控制电路输出模块控制信号SW2[1]给第2组采样通道Y2时，每个采样模块同时对该采样模块对应的第2个采样通道进行采样……依次类推，当逻辑控制电路输出模块控制信号SW2[15]给第16组采样通道Y16时，每个采样模块同时对该采样模块对应的第16个采样通道进行采样，这样，15个采样模块即完成了对所有采样通道的采样，如此，通过控制所有采样模块同时开始对该采样模块对应的采样通道分别进行采样，使得在采样模块对16个采样通道进行采样的时间内，完成对240个采样通道进行采样，极大地缩短了对各像素单元的亮度信息进行采样的时间，进而提高了调整像素单元的亮度的速度，提高了显示面板的亮度均一性。

如图11所示，驱动芯片中的采样模块对应的采样通道完成采样后，T-CON向驱动芯片中的逻辑控制电路输出输出指令信号TX_STB1，逻辑控制电路控制采样模块向T-CON传输保存的像素单元的亮度信息，驱动芯片将D0～Dn位的亮度信息通过多个脉冲信号输入到T-CON，用于调整该驱动芯片对应的各像素单元的亮度。

T-CON向驱动芯片输出SMP与输出TX_STB1的时间间隔大于或等于16个采样通道完成采样的采样时长(或称第一时长)。

其中，在整个采样期间，驱动芯片中的逻辑控制电路持续输出一个复位控制信号START，复位控制信号START的高低电平与通道控制信号SW2的高低电平相反，用于对采样模块进行复位，即START为低电平时，SW2为高电平，采样模块在START的下降沿、SW2的上升沿时刻开始对第一个采样通道进行采样，在SW2为下降沿时，采样模块完成对该采样通道的采样，此时START输出上升沿对采样模块进行复位，为下一次采样做准备。

实施例2、

如图12所示，各采样模块设置在不同的驱动芯片中。

这里以包括两个驱动芯片的显示面板为例：

显示面板包括一个T-CON、两个驱动芯片(驱动芯片IC1和驱动芯片IC2)，每个驱动芯片上设置有15个采样模块、一个panel，panel上设置有480个采样通道，即每个采样模块对应对16个采样通道进行采样。

T-CON向驱动芯片IC1及驱动芯片IC2上的工作模式选择管脚输出采样模式选择信号SEN-EN1，选择驱动芯片IC1及驱动芯片IC2进行采样动作；T-CON向两个驱动芯片输出系统信号SMP控制两个驱动芯片开始工作，两个驱动芯片中的逻辑控制电路开启该驱动芯片中每个采样模块所对应的模块控制信号SW1[0]～SW1[29]，其中，SW1[0]用于控制第1个采样模块开启，SW1[1]用于控制第2个采样模块106开启，以此类推，SW1[14]用于控制第15个采样模块开启，从而控制控制驱动芯片IC1中的采样模块1～15同时开始采样；SW1[15]用于控制第16个采样模块开启，SW1[16]用于控制第17个采样模块开启，以此类推，SW1[29]用于控制第30个采样模块开启，从而控制驱动芯片IC2中的采样模块16～30同时开始采样；驱动芯片IC1中的逻辑控制电路依次输出16个通道控制信号SW2[0]～SW2[15]，每一个通道控制信号用于控制一组采样通道同时开启，从而控制驱动芯片IC1中的采样模块1～15同时对该采样模块对应的16个采样通道分别进行采样，驱动芯片IC2中的逻辑控制电路依次输出通道控制信号SW2[16]～SW2[31]，每一个通道控制信号用于控制一组采样通道同时开启，从而控制驱动芯片IC2中的采样模块16～30同时对该采样模块对应的16个采样通道分别进行采样，以获取像素单元的亮度信息，具体地，如图13a所示，图中白色方块表示各采样模块，白色方块中的数字表示在采样模块1～15当中该采样模块的编号，黑色方块表示各采样通道，黑色方块中的数字表示在采样通道1～240中该采样通道的编号，驱动芯片IC1中的采样模块1对应采样采样通道1～16，采样模块2对应采样采样通道17～32……依次类推，采样模块15对应采样采样通道225～240；其中，每个采样模块所对应的采样通道中的第1个采样通道组成第1组采样通道A1，每个采样模块所对应的采样通道中的第2个采样通道组成第2组采样通道A2……依次类推，每个采样模块所对应的采样通道中的第16个采样通道组成第16组采样通道A16；逻辑控制电路依次输出通道控制信号SW2[0]～SW2[15]控制每组采样通道同时开启，即逻辑控制电路输出模块控制信号SW2[0]给第1组采样通道A1时，每个采样模块同时对该采样模块对应的第1个采样通道进行采样，逻辑控制电路输出模块控制信号SW2[1]给第2组采样通道A2时，每个采样模块同时对该采样模块对应的第2个采样通道进行采样……依次类推，当逻辑控制电路107输出模块控制信号SW2[15]给第16组采样通道A16时，每个采样模块同时对该采样模块对应的第16个采样通道进行采样；类似地，如图13b所示，图中白色方块表示各采样模块，白色方块中的数字表示在采样模块16～30当中该采样模块的编号，黑色方块表示各采样通道，黑色方块中的数字表示在采样通道241～480中该采样通道的编号，驱动芯片IC2中的采样模块16对应采样采样通道241～256，采样模块14对应采样采样通道257～272……依次类推，采样模块30对应采样采样通道465～480；其中，每个采样模块所对应的采样通道中的第1个采样通道组成第1组采样通道B1，每个采样模块所对应的采样通道中的第2个采样通道组成第2组采样通道B2……依次类推，每个采样模块所对应的采样通道中的第16个采样通道组成第16组采样通道B16；逻辑控制电路依次输出通道控制信号SW2[0]～SW2[15]控制每组采样通道同时开启，即逻辑控制电路输出模块控制信号SW2[0]给第1组采样通道B1时，每个采样模块同时对该采样模块对应的第1个采样通道进行采样，逻辑控制电路输出模块控制信号SW2[1]给第2组采样通道B2时，每个采样模块同时对该采样模块对应的第2个采样通道进行采样……依次类推，当逻辑控制电路输出模块控制信号SW2[15]给第16组采样通道B16时，每个采样模块同时对该采样模块对应的第16个采样通道进行采样；如此，通过控制所有采样模块同时开始对该采样模块对应的采样通道分别进行采样，使得在采样模块对16个采样通道进行采样的时间内，完成对480个采样通道进行采样，极大地缩短了对各像素单元的亮度信息进行采样的时间，进而提高了调整像素单元的亮度的速度，提高了显示面板的亮度均一性。

如图14所示，所有采样模块对应的采样通道完成采样后，T-CON向驱动芯片IC1中的逻辑控制电路输出输出指令信号TX_STB1，逻辑控制电路控制采样模块向T-CON传输保存的像素单元的亮度信息，驱动芯片将D0～Dn位的亮度信息通过多个脉冲信号输入到T-CON；驱动芯片IC1向T-CON传输完亮度信息后，向驱动芯片IC2输出输出指令信号TX_STB2，使得驱动芯片IC2向T-CON传输获取到的像素单元的亮度信息，驱动芯片将D0～Dn位的亮度信息通过多个脉冲信号输入到T-CON，用于调整各像素单元的亮度，驱动芯片IC1及驱动芯片IC2对应显示面板上不同的像素单元的区域。

T-CON向两个驱动芯片输出SMP与输出TX_STB1的时间间隔大于或等于16个采样通道完成采样的采样时长(或称第一时长)。

其中，在整个采样期间，驱动芯片IC1和驱动芯片IC2中的逻辑控制电路持续输出一个复位控制信号START，复位控制信号START的高低电平与通道控制信号SW2的高低电平相反，用于对采样模块进行复位，即START为低电平时，SW2为高电平，采样模块在START的下降沿、SW2的上升沿时刻开始对第一个采样通道进行采样，在SW2为下降沿时，采样模块完成对该采样通道的采样，此时START输出上升沿对采样模块进行复位，为下一次采样做准备。

相应地，在处理器侧(即时序控制模块侧)，本申请实施例提供一种采样控制方法，如图15所示，该方法包括：

S1501、处理器确定需要控制器工作在采样模式；

S1502、处理器向所述控制器发送采样模式选择信号，用以使得所述控制器控制多个采样模块同时开启，使得所述控制器控制的多个采样模块能够接收并保存采样通道采样得到的像素单元的亮度信息；其中，每一采样模块与多个采样通道相连，每一采样通道包括输入端和输出端，所述输入端用于采样显示基板中一部分区域的像素单元的亮度信息，所述输出端用于将采样得到的所述亮度信息传输给与该采样通道相连的采样模块；采样模块用于接收并保存采样通道输入的亮度信息；以及，使得控制器依次控制一组采样通道同时开启，使得该组采样通道同时进行亮度信息的采样，并将采样到的所述亮度信息通过该组采样模块的输出端传输给与该组采样通道相连的各采样模块；其中，在同一时刻打开的采样通道为一组采样通道，每组采样通道中的各采样通道分别与不同的采样模块相连。进一步地，在具体实施时，在本申请实施例提供的采样控制方法中，该方法还包括：

处理器确定需要控制器工作在校准模式；

处理器向所述控制器发送校准模式选择信号，用以使得所述控制器控制所述多个采样模块依次开启，使得所述控制器控制的多个采样模块能够接收并保存采样通道的输出端的输出信号；其中，控制器在控制每一所述采样模块开启后，控制与该采样模块相连的多个采样通道依次开启，使得所述采样通道的输入端依次接收校准源输入的信号，对校准源进行采样；其中，所述校准源用于当控制器收到处理器发送的校准模式选择信号时，给采样通道的输入端提供标准信号。

进一步地，在具体实施时，在本申请实施例提供的采样控制方法中，该方法还包括：

处理器在第一时长后获取控制器控制的采样模块中保存的、来自各个采样通道的采样结果；

处理器向控制器发送输出指令信号，从而获取所述控制器控制的各个所述采样模块保存的各个所述采样通道的输出端的输出信号；

其中，所述第一时长大于或等于所述控制器控制的所有采样模块对应的采样通道完成采样的时长。

进一步地，在具体实施时，如图16所示，在本申请实施例提供的采样控制方法中，对于所述控制器工作在校准模式时提供的采样结果，处理器进行如下校准步骤：

S1601、依次接收多个采样模块输入的各个所述采样通道的输出端的输出信号；

S1602、根据所述输出信号计算得出所述输出信号的采样均值；

S1603、将所述采样模块对应的各个所述采样通道的输出端的输出信号与所述采样均值进行比较，并根据比较结果得出该采样模块对应的所述采样通道的校准值；

S1606、生成并存储所述校准值与所述采样通道的对应关系表。

以下以控制器为逻辑控制电路，采样装置为设置有逻辑控制电路及采样模块的驱动芯片，处理器为时序控制模块为例进行说明。

具体地，在具体实施时，在本申请实施例提供的采样控制方法中，所有驱动芯片中的采样模块完成采样后，时序控制模块向一个驱动芯片输入输出指令信号TX_STB1控制该驱动芯片开始向时序控制模块传输该驱动芯片上的每一采样模块采集到的各采样模块的输出端的输出信号，T-CON接收到所有采样模块对应的采样通道的输出端的输出信号后，给每一采样模块及该采样模块对应的每一个采样通道设置一个地址，该驱动芯片完成向T-CON传输输出信号后，输出TX_STB2给与该驱动芯片级联的下一个驱动芯片，控制下一驱动芯片开始向时序控制模块传输该驱动芯片上的采样模块对应的采样通道的输出信号，T-CON接收到所有采样模块对应的采样通道的输出信号后，给每一采样模块及该采样模块对应的每一个采样通道设置一个地址……依次类推，所有驱动芯片完成向T-CON传输输出信号后，T-CON将所有采样模块及该采样模块对应的采样通道输入的输出信号建立如下表1的校准值与所述采样通道的对应关系表，其中SENSE代表采样模块，CH代表采样通道，假设有N个SENSE，M个CH，则每一SENSE对应L个CH。表格中的每一格对应一个采样模块或采样通道输入的校准信息及其对应的地址，T-CON将此表格保存在T-CON中。

表1

进一步地，在具体实施时，在本申请实施例提供的采样控制方法中，T-CON接收到所有采样模块对应的采样通道输入的输出信号后，根据所述输出信号计算得出一个采样均值，将表1中保存的每一个采样模块对应的采样通道的输出信号与所述采样均值进行比较得出该采样模块的校准值，并将每一采样模块对应的采样通道校准值保存在表1中该采样通道对应的位置，用以对采样模块及采样通道在采样模式下输入的像素单元的亮度信息进行校准。

进一步地，在具体实施时，在本申请实施例提供的采样控制方法中，对于所述驱动芯片工作在采样模式时提供的采样结果，进行如下处理步骤：

在校准值与采样通道的对应关系表中查找所述采样通道对应的预先得到的校准值；

利用所述预先得到的校准值对所述采样通道的采样结果进行校准。

具体地，在本申请实施例提供的采样控制方法中，在采样模式下，采样模块将该采样模块对应的采样通道获取的像素单元的亮度信息输入T-CON，T-CON采用寻址方式在已保存在T-CON中的校准值与采样通道的对应关系表查找该采样通道对应的预先得到的校准值，利用该校准值对该采样通道输入的亮度信息进行校准，得到校准后的亮度信息，并将该亮度信息输入像素驱动电路对像素单元的亮度进行调整。

进一步地，在具体实施时，在本申请实施例提供的采样控制方法中，所述采样均值例如可以为利用正态分布算法得出的正态分布均值或算术平均值，当然，不限于这两种算法，具体地，可以根据需要设计计算方式，只要符合本申请原理的计算方式都是可行的，在此不做限定。

进一步地，在具体实施时，本申请请实施例提供的采样控制方法中，所述校准值例如可以为所述采样均值与该采样模块对应的采样通道的输出信号的比值，当然，对校准值的计算不限于比值这一种方式，可以根据需要设计，在此不做限定。

具体地，在本申请实施例提供的采样控制方法中，T-CON对采样模块对应的采样通道输入的像素单元的亮度信息进行校准，具体包括：

若该采样模块获取的输出信号比所述采样均值大，则利用校准值减小该采样模块输入的亮度信息；

若该采样模块获取的输出信号比所述采样均值小，则利用校准值增大该采样模块输入的亮度信息。

进一步地，在具体实施时，在本申请实施例提供的采样控制方法中，在校准模式中，通过将唯一的校准源作为标准信号输入每一个采样模块所对应的采样通道，得到该采样通道的输出端的输出信号，将所述输出信号输入T-CON，用以计算得出一个采样均值，再将每一个采样模块对应的每一采样通道的输出信号与所述采样均值进行比较，根据比较结果得出一个校准值保存在T-CON中该采样模块对应的采样通道相应的存储位置中，在采样模式下，采样模块对应的采样通道向T-CON输入该采样通道获取的像素单元的亮度信息时，利用T-CON中已保存的该采样通道对应的校准值对所述亮度信息进行校准，以达到消除因采样通道和采样模块的寄生参数不同造成的采样误差，以提高采样结果的精准度。

需要说明的是，在本申请实施例提供的采样方法中，可以在进行采样之前，先让驱动芯片工作在校准模式下，对每一采样模块及每一采样通道进行校准，得到所述采样模块对应的采样通道的校准值，再让驱动芯片工作在采样模式下，对像素单元进行亮度信息的采样；当然，也可以不进行校准，直接让驱动芯片开始采样，或单独让驱动芯片进行校准动作；所述采样模式与校准模式是独立的关系，在本申请实施例提供的采样方法中，可以让驱动芯片单独工作在任一模式之下，在此不做限定。

下面结合具体实施例进行详细说明。需要说明的是，本实施例是为了更好的解释本申请提供的采样方法及采样控制方法，但不限制本申请提供的采样方法及采样控制方法。

让驱动芯片先工作在校准模式下，再工作在采样模式下。

例如，显示面板包括一个T-CON、一个驱动芯片，驱动芯片上设置有15个采样模块、一个panel，panel上设置有240个采样通道，即每个采样模块对应对16个采样通道进行采样；即第1个采样模块采样第1～16个采样通道，第2个采样模块采样第17～32个采样通道……依次类推，第15个采样模块采样第225～240个采样通道；驱动芯片中设置有逻辑控制电路，逻辑控制电路可以输出控制采样模块及采样通道工作的控制信号，控制采样模块的信号例如可以为模块控制信号SW1，15个采样模块即对应15个模块控制信号SW1[0]～SW1[14]；控制采样通道的信号例如可以为通道控制信号SW2，每个采样模块对应控制16个采样通道，即对应16个通道控制信号SW2[0]～SW2[15]；

同时，PCB中设置有一个校准源，具体地，在本申请实施例提供的采样控制中，所述校准源为一个恒定的标准信号，例如可以为一个恒定电流或恒定电压，所有驱动芯片与PCB相连；驱动芯片上的工作模式管脚接收到高电平时选择采样模式，接收到低电平时选择校准模式。

T-CON向驱动芯片上的工作模式选择管脚发送为低电平的工作模式选择信号SEN-EN，使驱动芯片开始校准动作；

T-CON输出一个级联控制信号calib1控制驱动芯片开始工作，驱动芯片中的逻辑控制电路开启模块控制信号SW1[0]，控制第1个采样模块开启；逻辑控制电路将L个通道控制信号SW2[0]～SW2[15]依次打开，依次控制该采样模块对应的L个采样通道开启，所述校准源作为标准信号依次输入所述采样通道，得到该采样通道的输出端的输出信号，具体地，驱动芯片中的逻辑控制电路输出模块控制信号SW2[0]时，所述校准源作为标准信号输入第1个采样模块对应的第1个采样通道，得到所述第1个采样通道的输出端的输出信号；逻辑控制电路输出模块控制信号SW2[1]时所述校准源作为标准信号输入第1个采样模块对应的第2个采样通道，得到所述第2个采样通道的输出端的输出信号；依次类推，逻辑控制电路输出模块控制信号SW2[15]时，所述校准源作为标准信号输入第1个采样模块对应的第16个采样通道，得到所述第L个采样通道的输出端的输出信号；第1个采样模块完成采样后，逻辑控制电路输出模块控制信号SW1[1]，控制第2个采样模块开启；驱动芯片中的逻辑控制电路将16个通道控制信号SW2[0]～SW2[15]依次打开，依次控制第2个对应的L个采样通道开启，所述校准源作为标准信号依次输入所述采样通道，得到该采样通道的输出端的输出信号，即逻辑控制电路发出模块控制信号SW2[0]时，所述校准源作为标准信号输入第2个采样模块对应的第17个采样通道，得到所述第17个采样通道的输出端的输出信号；逻辑控制电路输出模块控制信号SW2[1]时，所述校准源作为标准信号输入第2个采样模块对应的第18个采样通道，得到所述第18个采样通道的输出端的输出信号，依次类推，当逻辑控制电路输出模块控制信号SW2[15]时，所述校准源作为标准信号输入第2个采样模块对应的第32个采样通道，得到所述第32个采样通道的输出端的输出信号；第2个采样模块完成采样后，逻辑控制电路输出模块控制信号SW1[2]，控制第3个采样模块开启……依次类推，相应地，第14采样模块完成采样后，驱动芯片中的逻辑控制电路输出模块控制信号SW1[14]，控制第15个采样模块开启；逻辑控制电路将16个通道控制信号SW2[0]～SW2[15]依次打开，依次控制第15个采样模块对应的16个采样通道开启，所述校准源作为标准信号依次输入所述采样通道，得到该采样通道的输出端的输出信号，即逻辑控制电路输出模块控制信号SW2[0]时，述校准源作为标准信号输入第15个采样模块对应的第225个采样通道，得到所述第225个采样通道的输出端的输出信号，逻辑控制电路输出模块控制信号SW2[1]时，述校准源作为标准信号输入第15个采样模块对应的第226个采样通道，得到所述第226个采样通道的输出端的输出信号，依次类推，当逻辑控制电路发出模块控制信号SW2[15]时，所述校准源作为标准信号输入第15个采样模块对应的第240个采样通道，得到所述第240个采样通道的输出端的输出信号；

15个采样模块完成采样后，即大于等于240个采样通道完成采样的时间后，T-CON向驱动芯片输出输出指令信号TX_STB1，控制驱动芯片向T-CON传输该驱动芯片中所有采样模块采集到的各采样通道的输出端的输出信号，用于对各采样模块及采样通道的进行校准，消除误差，具体地，驱动芯片将D0～Dn位的输出信号通过多个脉冲信号输入到T-CON，将获取的输出信号依次输入T-CON，T-CON接收到所有采样模块对应的采样通道的输出信号后，给每一采样模块及该采样模块对应的每一个采样通道设置一个地址，T-CON将所有采样模块及该采样模块对应的采样通道输入的输出信号建立如下表2的校准值与所述采样通道的对应关系表，保存在T-CON中；其中SENSE代表采样模块，CH代表采样通道，数字为每一采样模块及采样通道的编号。

表2

同时，T-CON可以利用接收到的所有输出信号进行正态分布计算，取正态分布技术中分布频率最高的值得出一个采样均值，并将表2中保存的每一采样模块对应的采样通道的输出信号与该采样均值进行比较，得出每一采样模块对应的采样通道的校准值，即该采样通道输入的输出信号与采样均值的比值；并将校准值保存至表2中该采样通道对应的存储位置中。

T-CON向驱动芯片上的工作模式选择管脚发送为高电平的工作模式选择信号SEN-EN，使驱动芯片选择采样模式；

逻辑控制电路依次输出16个通道控制信号SW2[0]～SW2[15]，每一个通道控制信号用于控制一组采样通道同时开启，从而控制15个采样模块同时对该采样模块对应的16个采样通道分别进行采样，以获取像素单元的亮度信息，具体地，如图10所示，图中白色方块表示各采样模块，白色方块中的数字表示在第1～15个采样模块当中该采样模块的编号，黑色方块表示各采样通道，黑色方块中的数字表示在第1～240个采样通道中该采样通道的编号；第1个采样模块对应采样第1～16个采样通道，第2个采样模块对应采样第17～32个采样通道……依次类推，第15个采样模块对应采样第225～240个采样通道；其中，每个采样模块所对应的采样通道中的第1个采样通道组成第1组采样通道Y1，每个采样模块所对应的采样通道中的第2个采样通道组成第2组采样通道Y2……依次类推，每个采样模块所对应的采样通道中的第16个采样通道组成第16组采样通道Y16；逻辑控制电路依次输出通道控制信号SW2[0]～SW2[15]控制每组采样通道同时开启，即逻辑控制电路输出模块控制信号SW2[0]给第1组采样通道Y1时，每个采样模块同时对该采样模块对应的第1个采样通道进行采样，逻辑控制电路输出模块控制信号SW2[1]给第2组采样通道Y2时，每个采样模块同时对该采样模块对应的第2个采样通道进行采样……依次类推，当逻辑控制电路输出模块控制信号SW2[15]给第16组采样通道Y16时，每个采样模块同时对该采样模块对应的第16个采样通道进行采样，这样，15个采样模块即完成了对所有采样通道的采样，如此，通过控制所有采样模块同时开始对该采样模块对应的采样通道分别进行采样，使得在采样模块对16个采样通道进行采样的时间内，完成对240个采样通道进行采样，极大地缩短了对各像素单元的亮度信息进行采样的时间，进而提高了调整像素单元的亮度的速度，提高了显示面板的亮度均一性。

驱动芯片中的采样模块完成采样后，T-CON向驱动芯片输出输出指令信号TX_STB1，控制驱动芯片向T-CON传输获取到的像素单元的亮度信息，驱动芯片将D0～Dn位的亮度信息通过多个脉冲信号输入到T-CON，T-CON采用寻址方式在已保存在T-CON中的校准值与采样通道的对应关系表(表2)查找该采样通道对应的预先得到的校准值，利用该校准值对该采样通道输入的亮度信息进行校准，得到校准后的亮度信息，并将该亮度信息输入像素驱动电路对像素单元的亮度进行调整，以达到消除因采样通道和采样模块的寄生参数不同造成的采样误差，以提高采样结果的精准度。

基于同一发明构思，本申请实施例提供一种采样装置，如图17所示，该装置包括：

第一单元1201，用于控制多个采样模块同时开启，使得所述多个采样模块能够接收并保存采样通道采样得到的所述像素单元的亮度信息；其中，

每一采样模块与多个采样通道相连，每一采样通道包括输入端和输出端，所述输入端用于采样显示基板上一部分区域的像素单元的亮度信息，所述输出端用于将采样得到的所述亮度信息传输给与该采样通道相连的采样模块；采样模块用于接收并保存采样通道输入的亮度信息；

第二单元1202，用于依次控制一组采样通道同时开启，使得该组采样通道同时进行亮度信息的采样，并将采样到的所述亮度信息通过该组采样通道的输出端传输给与该组采样通道相连的各采样模块；其中，

在同一时刻打开的采样通道为一组采样通道，每组采样通道中的各采样通道分别与不同的采样模块相连。

可选地，本申请实施例提供的上述采样装置，当所述第一单元收到处理器发送的采样模式选择信号时，执行控制多个采样模块同时开启的步骤。

可选地，本申请实施例提供的上述采样装置，该装置还包括：校准采样单元；

所述校准采样单元用于：

当第一单元收到处理器发送的校准模式选择信号时，所述多个采样模块依次开启，使得所述多个采样模块能够接收并保存采样通道的输出端的输出信号；

其中，第一单元在控制每一所述采样模块开启后，控制与该采样模块相连的多个采样通道依次开启，使得所述采样通道的输入端依次接收校准源输入的信号，对校准源进行采样；其中，所述校准源用于当控制器收到处理器发送的校准模式选择信号时，给采样通道的输入端提供标准信号。

可选地，本申请实施例提供的上述采样装置，各个所述采样通道的输入端的输入信号相同，均为同一校准源提供的标准信号。

可选地，本申请实施例提供的上述采样装置，所述第一单元、采样模块设置在同一采样芯片中，所述校准采样单元还用于：

当所述第一单元确定所属的采样芯片完成采样后，该所述第一单元向与该第一单元所属的采样芯片级联的下一个采样芯片中的第一单元发送级联控制信号，使得下一个采样芯片中的第一单元控制所述下一个采样芯片中的多个采样模块依次开启。

可选地，本申请实施例提供的上述采样装置，该装置还包括：信息输出单元；

所述信息输出单元用于：

当收到处理器发送的输出指令信号时，控制器控制各个所述采样模块将保存的、来自各个采样通道的信号发送给所述处理器。

基于同一发明构思，如图18所示，本申请实施例提供一种采样控制装置，该装置包括：

第三单元1801，用于判断控制器需要工作的模式；

第四单元1802，用于当所述第三单元确定需要控制器工作在采样模式时，向所述控制器发送采样模式选择信号，使得所述控制器控制多个采样模块同时开启，使得所述控制器控制的多个采样模块能够接收并保存采样通道采样得到的像素单元的亮度信息；其中，每一采样模块与多个采样通道相连，每一采样通道包括输入端和输出端，所述输入端用于采样显示基板中一部分区域的像素单元的亮度信息，所述输出端用于将采样得到的所述亮度信息传输给与该采样通道相连的采样模块；采样模块用于接收并保存采样通道输入的亮度信息；以及，使得控制器依次控制一组采样通道同时开启，使得该组采样通道同时进行亮度信息的采样，并将采样到的所述亮度信息通过该组采样模块的输出端传输给与该组采样通道相连的各采样模块；其中，在同一时刻打开的采样通道为一组采样通道，每组采样通道中的各采样通道分别与不同的采样模块相连。

可选地，本申请实施例提供的上述采样控制装置，所述第四单元还用于：

当所述第三单元确定需要控制器工作在校准模式时，向所述控制器发送校准模式选择信号，用以使得所述控制器控制所述多个采样模块依次开启，使得所述控制器控制的多个采样模块能够接收并保存采样通道的输出端的输出信号；其中，控制器在控制每一所述采样模块开启后，控制与该采样模块相连的多个采样通道依次开启，使得所述采样通道的输入端依次接收校准源输入的信号，对校准源进行采样；其中，所述校准源用于当控制器收到处理器发送的校准模式选择信号时，给采样通道的输入端提供标准信号。

可选地，本申请实施例提供的上述采样控制装置，该装置还包括：

发送指示单元，用于：

在第一时长后获取控制器控制的采样模块中保存的、来自各个采样通道的采样结果；

向控制器发送输出指令信号，从而获取所述控制器控制的各个所述采样模块保存的各个所述采样通道的输出端的输出信号；

其中，所述第一时长大于或等于所述控制器控制的所有采样模块对应的采样通道完成采样的时长。

可选地，本申请实施例提供的上述采样控制装置，该装置还包括：计算单元；

对于所述控制器工作在校准模式时提供的采样结果，计算单元进行如下校准步骤：

依次接收多个采样模块输入的各个所述采样通道的输出端的输出信号；

根据所述输出信号计算得出所述输出信号的采样均值；

将所述与采样模块相连的各个所述采样通道的输出端的输出信号与所述采样均值进行比较，并根据比较结果得出该采样模块对应的所述采样通道的校准值；

生成并存储所述校准值与所述采样通道的对应关系表。

可选地，本申请实施例提供的上述采样控制装置，该装置还包括：校准单元；

对于所述驱动芯片工作在采样模式时提供的采样结果，所述校准单元进行如下处理步骤：

在校准值与采样通道的对应关系表中查找所述采样通道对应的预先得到的校准值；

利用所述预先得到的校准值对所述采样通道的采样结果进行校准。

可选地，本申请实施例提供的上述采样控制装置，所述采样均值为对所述输出信号进行正态分布运算得出的均值。

可选地，本申请实施例提供的上述采样控制装置，所述校准值为所述输出信号与所述校准均值的比值。

基于同一发明构思，本申请实施例提供一种采样控制系统，包括上述任一所述的采样装置。

可选地，本申请实施例提供的上述采样控制系统，还包括上述任一所述的采样控制装置。

基于同一发明构思，本申请实施例提供一种显示装置，包括本申请实施例提供的上述的采样控制系统。该显示装置可以为：手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。对于该显示装置的其它必不可少的组成部分均为本领域的普通技术人员应该理解具有的，在此不做赘述，也不应作为对本申请的限制。该显示装置的实施可以参见上述封装结构的实施例，重复之处不再赘述。

综上所述，本申请实施例提供的上述方案，通过同时控制多个采样模块对各采样模块对应的像素单元进行亮度信息的采样，使得在一个采样周期内各采样模块完成对整个显示面板中的像素单元的亮度信息的采样，用以缩短采样像素单元的亮度信息的时间，进而提高了调整像素单元的亮度的速度，提高了显示面板显示画面的亮度均一性；通过在采样模块开始采样之前，控制每一采样模块对该采样模块对应的像素单元进行采样，再与预先设置的标准亮度信息进行比较后进行校准，从而消除采样的误差，提高了采样结果的精准度。

本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器和光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

显然，本领域的技术人员可以对本申请进行各种改动和变型而不脱离本申请的精神和范围。这样，倘若本申请的这些修改和变型属于本申请权利要求及其等同技术的范围之内，则本申请也意图包含这些改动和变型在内。