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一种具有温度效应模型的失配模型之建模方法

摘要

本发明公开一种具有温度效应模型的失配模型之建模方法。所述具有温度效应模型的失配模型之建模方法,包括,步骤S1:设计失配模型的器件结构;步骤S2:测量与器件尺寸、工作温度相关的失配模型数据;步骤S3:在原有失配模型中加入温度效应模型,使得所述具有温度效应模型的失配模型之仿真的温度效应与测试数据的温度效应拟合一致。本发明通过在原有失配模型中加入温度效应模型,使得所述具有温度效应模型的失配模型之仿真的温度效应与测试数据的温度效应拟合一致,便可精确的反映器件失配的温度效应。

著录项

  • 公开/公告号CN108153960A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-06-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华力微电子有限公司;

    申请/专利号CN201711392350.7

  • 发明设计人 吕少力;

    申请日2017-12-21

  • 分类号G06F17/50(20060101);

  • 代理机构31237 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人智云

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路568号

  • 入库时间 2023-06-19 05:38:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-07-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/50 申请日:20171221

    实质审查的生效

  • 2018-06-12

    公开

    公开

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