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一种确定摄影测量中标志点的法向及半径的方法和系统

摘要

本发明涉及一种确定摄影测量中标志点的法向及半径的方法和系统,其方法包括以下步骤:提取标志点在一张图像中成像的亚像素边缘点,并进行椭圆拟合,得到成像点;根据对极几何关系并结合成像点,找出标志点在其他多张图像上成像的同名点;采用鲁棒的平面拟合方法对多个同名点进行拟合得到拟合平面,通过拟合平面解算出标志点的法向量,并得到滤除噪声后的同名点;对滤除噪声后的同名点进行圆拟合,得到标志点的半径。采用本发明一种确定摄影测量中标志点的法向及半径的方法可以提高标志点的法向和半径的计算精度,使计算结果更加接近于真实效果。

著录项

  • 公开/公告号CN108038878A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-05-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉中观自动化科技有限公司;

    申请/专利号CN201711084036.2

  • 发明设计人 郑顺义;朱锋博;王晓南;

    申请日2017-11-07

  • 分类号G06T7/62(20170101);G06T7/70(20170101);

  • 代理机构11212 北京轻创知识产权代理有限公司;

  • 代理人杨立;李蕾

  • 地址 430000 湖北省武汉市东湖高新技术开发区关山二路特1号武汉国际企业中心3幢401号

  • 入库时间 2023-06-19 05:20:14

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-06-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T7/62 申请日:20171107

    实质审查的生效

  • 2018-05-15

    公开

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