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模式相关损耗测量方法和测量装置

摘要

当前实施例涉及一种包括实现MDL测量而不增大处理负载的结构的MDL测量方法等。当前实施例针对N(≥2)个空间模式按次序执行将预定强度的光输入至任意空间模式的光输入操作和测量包括所述任意空间模式的N个空间模式中的每一个的输出光强的强度测量操作,以产生涉及作为测量目标的光纤中的传输损耗的传输矩阵,并且通过利用产生的传输矩阵的各个组分值至少确定每单位光纤长度的MDL的线性值。

著录项

  • 公开/公告号CN107923816A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-04-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 住友电气工业株式会社;

    申请/专利号CN201680050174.6

  • 发明设计人 林哲也;

    申请日2016-12-21

  • 分类号G01M11/02(20060101);G02B6/02(20060101);

  • 代理机构11112 北京天昊联合知识产权代理有限公司;

  • 代理人李铭;崔利梅

  • 地址 日本大阪府

  • 入库时间 2023-06-19 05:09:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-03-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M11/02 申请日:20161221

    实质审查的生效

  • 2018-04-17

    公开

    公开

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