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一种卫星用器件抗辐射能力的评估方法及其系统

摘要

本发明涉及一种卫星用器件抗辐射能力的评估方法,该方法包括步骤:对待测器件进行重离子单粒子效应试验,获取试验数据;利用Weibull函数拟合试验数据,得出尺度参数以及形状参数,推演质子单粒子翻转截面表达式;根据质子单粒子翻转截面表达式以及质子单粒子翻转率计算公式,计算质子单粒子翻转率;根据质子单粒子翻转率,评估待测器件的抗辐射能力。本发明还涉及一种卫星用器件抗辐射能力的评估系统。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-08-16

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/00 授权公告日:20130116 终止日期:20180525 申请日:20090525

    专利权的终止

  • 2013-01-16

    授权

    授权

  • 2013-01-16

    授权

    授权

  • 2011-01-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/00 申请日:20090525

    实质审查的生效

  • 2011-01-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/00 申请日:20090525

    实质审查的生效

  • 2010-12-01

    公开

    公开

  • 2010-12-01

    公开

    公开

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