基于寿命模型参数波动的精确评估IGBT可靠性的方法

摘要

本发明提出一种基于寿命模型参数波动的精确评估IGBT可靠性的方法，该方法包括以下步骤：S1、根据IGBT的型号和使用环境，确定IGBT所在电路的电气参数；S2、确定IGBT的热应力：根据IGBT所在电路的电气参数，在仿真软件中搭建电路图，根据IGBT的Datasheet中的损耗参数和热模型，仿真得到IGBT的结温随时间变化的波形；S3、结合Bayerer模型参数和IGBT的结温，进行的IGBT寿命评估。本发明可有效评估IGBT的可靠性。