用于通过干涉法进行检查的设备

摘要

用于通过干涉法来检查多芯光纤连接器的套箍(3)的端面(2)的几何形状的检查设备(1)。该检查设备(1)允许该套箍(3)被用于保持套箍(3)的装置(11)保持，而包括接收装置(34)的支承板(8)采取一空间位置，该位置主要有支承板(8)的接收装置(34)与设置在套箍(3)上的接合装置(33)的相互作用确定。该支承板(8)包括基准面(9a，9b)，相对于该基准面通过干涉法测量套箍(3)的端面(2)的几何形状，该基准面(9a，9b)的位置是相对于接收装置(34)的定向预设的。

说明书

技术领域

本发明涉及多芯光纤连接器的几何形状的检查，并且更具体地涉及多芯光纤连接器的套箍的端面的检查。

背景技术

光纤允许使用光信号在大距离上传输数据。为了增加传输的数据量，通常利用多个彼此相邻的光纤形成带状光导体。光导体可借助连接器与另一光导体连接。连接器通常在待连接的光导体的每一端处包括通过在光纤周围模制而产生并且被称为套箍的端件。光导体的光纤通过在套箍的端面开口而终止，该端面被预期靠着另一套箍的端面定位，其中不同套箍的光纤被安置成互相对应。两个连续的光导体的光纤的良好物理接触(端对端地设定)允许光信号正确地从一个光导体的光纤到达另一光导体的光纤。

在EP 1 083 448 B1中详细描述了多芯光纤套箍的示例。

如在文献US 7,004,639 B2和US 6,d215,555 B1中教导的，为了确保从一条光纤到另一条光纤的良好传输，将两个套箍的一个端面靠在另一端面上的定位需要高的精度。为了实现这一点，套箍通常设置有两个导向孔，其使得可以借助于插入到两个套箍的导向孔中的导向杆来将光纤定位成使得它们以高精度相互对应。

套箍的端面被抛光以便为它们赋予尽可能接近所建立的标准(特别是由指导手册设定)的几何形状。这种抛光的目的特别是为端面提供高度的平面性，以及使相对于引导孔的平均方向的平均角落入相当严格的公差范围内以便促进光纤之间的良好物理接触和因此良好的传输。

为了补偿旨在互相连接的套箍的几何形状的偏差(特别是端面的角度)，连接器包括弹性复位装置，它允许套箍以预定的力彼此压靠(经由它们的端面互相抵靠)。所述预定的力的值由标准规定。

因此已针对套箍的端面建立非常严格的几何形状标准，以便确保该端面的几何形状在利用所述预定的力与另一套箍连接时将允许良好的数据传输。特别地，国际电工委员会(IEC)的标准61755-3-31规定，应测量套箍端面的各种几何参数(特别是角度值“S_X”，其可被看作相对于导向孔的平均延伸方向介于套箍的两个导向孔之间的端面部分的包含导向孔的延伸方向的平面中的平均角度)。利用这些参数，然后利用预先建立的公式计算力“GL”。力GL是套箍将必须承受以便在考虑它的几何参数的情况下确保光纤之间允许合意地传输数据的物理接触的挤压力。如果计算出的力GL高于预定值，则这意味着套箍的几何形状是不合意的并且光导体于是被扔弃。

被认为最接近的现有技术的文献US 7,004,639B2描述了一种用于通过干涉法来检查套箍的端面的几何形状的装置和方法。在该文献中，通过将套箍F推压嵌合在穿过套箍F的导向孔TG1和TG2的两个杆T1和T2上来将套箍F附接到干涉仪I上(参见图1)。杆T1和T2由干涉仪I的固定支承凸缘FS承载。一旦套箍F已相对于干涉仪I被固定，就在套箍F的端面FE上取多个测量点以便数学地复制形状并确定几何参数。为了执行测量，使用垂直于杆T1或T2的延伸方向的平坦表面作为基准，如在例如US 6,705,767B1和US 6,215,555B1中教导的。

然而，当使用文献US 7,004,639 B2的装置执行测量时，存在突出超过套箍(在正被检查的端面的相反侧)的光纤形成相对刚硬和/或笨重的导体C的缺点。导体C的这种刚度和/或这种重量导致套箍F上的侧向应力，其干涉套箍F相对于干涉仪I和/或相对于杆T1和T2的合意定位(例如通过使套箍F和/或杆T1和T2轻微变形)。这导致所执行的测量出现偏差。在图2中，套箍F发生轻微的倾斜，这人为地将角度S_X增大了角度ε，使得正被检查的套箍F承担被扔弃的风险，即使它的几何参数事实上是合意的。也可能相反地人为减小角度S_X，使得正被检查的套箍F可能被认为是适当的，即使它的几何参数事实上是不合意的。

文献US 2003/227634 A1包含与文献US 7,004,639 B2接近的技术教导。然而，在文献US 2003/227634 A1中，代替借助接合在套箍的导向孔中的杆来保持套箍，套箍被保持在对立的爪之间，所述爪抵靠在作为具有圆形截面的圆柱体的套箍的外表面上。在本例中，同样，存在突出超过套箍(在正被检查的端面的相反侧)的光纤形成相对刚硬和/或笨重的导体的缺点。导体的这种刚度和/或这种重量导致套箍上干涉套箍相对于干涉仪和/或相对于套箍被保持在其间的爪的合意定位(例如通过使套箍和/或爪轻微变形，或通过导致套箍在爪之间扭曲)的侧向应力。这导致所执行的测量出现偏差。

发明内容

本发明所提出的问题在于限制在通过干涉法检查套箍的几何形状时由于光学导体的刚性和/或重量而导致的误差风险。

为了满足此目的和其它目的，本发明提出一种用于通过干涉法来检查多芯光纤连接器的套箍的端面的几何形状的检查设备，该套箍包括接合装置，该检查设备包括：

-支承凸缘，它包括基本上互相相对的第一和第二表面以及相对于由支承凸缘承载的至少一个基准面以预定方式定位和定向(定方位，取向)的接收装置，所述接收装置适合于与套箍的接合装置配合以便通过在轴向接收方向上接收套箍以及通过使套箍围绕所述轴向接收方向旋转变位(按索引定位)来将套箍相对于支承凸缘定位和定向；

-用于保持支承凸缘的装置，它适合于在空闲位置接收支承凸缘，在所述空闲位置支承凸缘相对于干涉法检查设备是固定的，

根据本发明：

-用于保持支承凸缘的装置适合于将支承凸缘释放到至少一个释放位置，在所述释放位置该支承凸缘能相对于干涉法检查设备移动，

–该干涉法检查设备包括用于保持套箍的装置，所述装置与接收装置是分开的并且能选择性地在抓握位置与松开位置之间移动，在所述抓握位置，用于保持套箍的装置保持套箍相对于干涉法检查设备固定，在所述松开位置，用于保持套箍的装置允许套箍相对于干涉法检查设备移动。

在检查期间，根据本发明的设备允许在所述套箍接合在支承凸缘的接收装置中的同时借助用于保持套箍的装置相对于干涉法检查设备保持套箍。在该检查期间，由于用于保持套箍的装置与接收装置是分开的，所以支承凸缘可被置于释放位置，从而允许它相对于干涉仪采取仅通过支承凸缘的接收装置和套箍的接合装置的配合(以及重力在支承凸缘上的作用，支承凸缘的重量可足够低以限制产生误差的风险)确定的位置。换而言之，由于它相对于干涉法检查设备不是固定的，所以支承凸缘(及其基准面)可以更自由地跟随套箍由于光导体的刚性和/或重量而产生的侧向移动。如果由于光导体的刚性和/或重量而在套箍中产生侧向应力，则这些侧向应力将大部分被用于保持套箍的装置(它在支承凸缘被置于释放位置时处于抓握位置)吸收，并且对支承凸缘(带有接收装置)和套箍的相对定位—该相对定位用于确定套箍的端面的几何形状—的影响将较小。

由于接收装置(例如杆)具有相对于由支承凸缘承载的基准面预先确定的定向，所以相对基准面对端面进行的测量使得可以提供套箍的端面相对于套箍的接合装置(例如导向孔)的几何参数(特别是角S_X和S_Y)的更精确的确定。

可使用支承凸缘的任何良好抛光的表面—它是平面的(或具有预定形状的非平面)—作为基准面。然而，支承凸缘可有利地包括：

–穿过支承凸缘从其第一表面通向其第二表面的灯；

-至少一个平面基准面，其被添加并附接至支承凸缘的第一表面，并且定位成与灯的区域对应。

由支承凸缘承载的基准面因此紧邻套箍的端面应当基本上位于其中的平面定位，由此使得可以在不必分别将干涉法检查设备在端面和基准面上重新聚焦的情况下同时测量两个表面。测量因此更快地进行。

优选地，所述至少一个平面基准面可由添加并附接至支承凸缘的第一表面的玻璃板承载/产生。

玻璃板包括通常呈现良好平面度的面并且它是不昂贵的材料。此外，玻璃的天然反射性类似于套箍(和它们的端面)通常由其制成的材料，例如特别是PPS(聚苯硫醚)，由此有利于干涉测量。或者，可以使用添加并附接至支承凸缘的第一表面的硅板来形成基准面。

有利地，可以设想：

-干涉法检查设备包括第一平面基准面和第二平面基准面；

-第一平面基准面与轴向接收方向形成约90°的角；

-第二平面基准面与轴向接收方向形成约98°的角。

第一基准面使得可以检查PC型套箍(物理接触并且不成角度)，假设其端面位于与轴向接收方向基本上垂直的平面中。

第二基准面使得可以检查APC型套箍(物理接触并且成角度)，假设其端面位于与包含套箍的接合装置(例如导向孔)的延伸方向的平面成约8°的角。

支承凸缘因此包括使得可以检查PC(物理接触)或APC(成角度的物理接触)套箍的基准面。

优选地，可以设想：

-干涉法检查设备在支承凸缘的第一表面上包括远离支承凸缘的第二表面突出的二面体；

-该二面体的顶点处的母线包含于由所述至少一个基准面限定的至少一个平面中。

一旦套箍已被推压到杆上，套箍因此由于与二面体的顶点进行接触而被止挡，端面在二面体的顶点的母线的任一侧延伸。通过在端面的中间挤压，相对容易重复地获得止挡位置，并且该止挡位置有利于端面的几何形状的测量。

有利地，可以设想：

-干涉法检查设备在支承凸缘的第一表面上包括远离支承凸缘的第二表面突出的二面体；

-二面体的边相对于轴向接收方向具有小于或等于81°的角。

二面体的角使得可以防止套箍在它被推压到杆上时由于端面的外缘与支承凸缘之间的接触(靠在二面体的一个面上)而被止挡，即使当套箍属于APC型时。

优选地，可以设想：

-用于保持支承凸缘的装置包括截锥形的支承座；

-支承凸缘包括适合于通过锥形接合而与用于保持支承凸缘的装置的截锥形的支承座配合的截锥形的外周面。

将支承凸缘锥形地推压嵌合到用于保持凸缘的装置中使得可以简单并且精确地将支承凸缘相对于干涉法检查设备固定。然而，借助远离截锥形的支承座施加在支承凸缘上的压力，可容易地逆转这种固定。

有利地，在空闲位置，用于保持支承凸缘的装置将支承凸缘围绕轴向接收方向保持在相对于检查设备的预定定向上。

这种定向使得操作人员可以快速且容易地将待检查的套箍接合在接收装置上，因为当支承凸缘处于空闲位置时支承凸缘始终处于同一定向。

在实践中，有利地可以设想：

-截锥形的支承座包括非圆形截面；

-支承凸缘的截锥形的外周面包括与截锥形的支承座的截面互补的非圆形截面。

优选地，可以设想：

-用于保持套箍的装置包括能在抓握位置与松开位置之间相对于彼此移动的第一爪(夹爪，钳口)和第二爪；

-在抓握位置，这些爪将套箍卡紧在它们之间，以便保持该套箍相对于干涉法检查设备固定；

-在松开位置，这些爪互相相距一定距离，以便允许套箍相对于干涉法检查设备移动。

所述爪均能相对于干涉法检查设备移动。或者，爪中的一个可相对于干涉法检查设备固定，而另一个是可移动的。

为了保持外形大致为平行六面体的套箍(例如MT型套箍)，可使用两个托架形的爪。

有利地，可以设想：

-用于保持支承凸缘的装置包括用于使支承凸缘返回其空闲位置的弹性复位装置；

-检查设备包括用于选择性地停止由弹性复位装置施加的弹性复位力的抑制装置。

弹性复位装置有助于保持支承凸缘处于空闲位置以便允许操作人员精确和有效地将套箍推压嵌合到杆上。

抑制装置使得可以停止弹性复位装置对支承凸缘的任何影响。支承凸缘因此可在释放位置采取主要通过杆向套箍中的导向孔内的推压嵌合决定的空间位置。该位置仅稍微取决于在支承凸缘的自重的影响下的重力作用，通过使用重量较轻的凸缘，可潜在地使该作用可忽略不计。

优选地，当用户通过向支承凸缘施加超过预定值的压力来将套箍接合在支承凸缘的接收装置中时，支承凸缘可对抗用于保持支承凸缘的装置移动到释放位置。

因此，仅通过继续推压动作，在套箍经由其接合装置接合在接收装置中之后，操作人员促成支承凸缘自动置于释放位置。检查设备因此可由操作人员简单和直观地操纵。

有利地，用于保持套箍的装置仅在支承凸缘未处于空闲位置时抓握套箍。因此确保了，当套箍相对于检查设备固定不动时，支承凸缘相对于套箍的位置不受除了杆推压嵌合到套箍中的导向孔内以外的任何事情限制(受重力作用限制，但程度很小)。

有利地，可以设想：

-接收装置包括沿相同方向从支承凸缘的第一表面并远离支承凸缘的第一表面延伸的至少两个杆；

-杆分别沿大致平行于相对于由支承凸缘承载的所述至少一个基准面的预定定向的第一和第二延伸方向延伸；

-杆被定尺寸并定位成能分别穿过包括导向孔的接合装置，以便将套箍相对于支承凸缘定位和定向。

这两个杆通过推压嵌合到导向孔中而以可靠方式接收套箍和将其取向。导向孔因此用作用于将套箍相对于支承凸缘定位和定向的基准。

根据另一方面，本发明提出了一种用于通过干涉法来检查多芯光纤连接器的端面的几何形状的方法。根据本发明，所述方法包括以下步骤：

A)提供干涉仪；

B)提供支承凸缘，该支承凸缘包括基本上互相相对的第一和第二表面以及相对于由支承凸缘承载的至少一个基准面以预定方式定位和取向的接收装置，所述接收装置适合于与套箍的接合装置配合以便通过在轴向接收方向上接收套箍以及通过使套箍围绕所述轴向接收方向旋转变位来将套箍相对于支承凸缘定位和取向；

C)提供套箍，该套箍包括适合于与接收装置配合的接合装置，并且包括必须检查其几何形状的端面；

D)将套箍接合在支承凸缘的接收装置中；

E)借助保持装置抓握套箍，以便将由套箍和支承凸缘形成的子组件保持在相对于干涉仪的固定位置，支承凸缘仅经由被保持在保持装置中的套箍而相对于干涉仪被保持；

F)通过将干涉仪在支承凸缘的基准面上聚焦并且通过将干涉仪在套箍的端面上聚焦来检查套箍的端面的几何形状。

检查端面的几何形状的步骤F)在支承凸缘(和因此基准面)主要通过杆向套箍中的导向孔内的推压嵌合而相对于套箍定位的同时执行，通过使用重量较轻的凸缘，支承凸缘的自重的影响下的重力作用可忽略不计。由于支承凸缘仅经由自身被保持在保持装置中的套箍相对于干涉仪被保持，所以通过套箍相对于干涉仪的角运动也传递至支承凸缘的事实，由于光导体的刚性和/或重量而产生的侧向应力的影响减轻，或甚至完全消除。

有利地，在步骤F)中，干涉仪可同时在套箍的端面上和基准面上聚焦。

根据又一方面，本发明提出上述干涉法检查设备的、用于实施上述方法的用途(使用方法)。所述用途包括以下步骤：

a)提供如上述的干涉法检查设备；

b)提供套箍，该套箍包括适合于与接收装置配合的接合装置，并且包括必须检查其几何形状的端面；

c)将支承凸缘置于空闲位置；

d)将套箍接合在支承凸缘的接收装置中；

e)将支承凸缘置于释放位置；

f)将用于保持套箍的装置移动到抓握位置；

g)通过将干涉仪在支承凸缘的基准面上聚焦并且通过将干涉仪在套箍的端面上聚焦来检查套箍的端面的几何形状。

检查端面的几何形状的步骤g)在支承凸缘(和因此基准面)主要通过杆向套箍中的导向孔内的推压嵌合而相对于套箍定位的同时执行，通过使用重量较轻的凸缘，支承凸缘的自重的影响下的重力作用可忽略不计。由于套箍相对于干涉法检查设备的角运动也传递至支承凸缘的事实，减轻了由于光导体的刚性和/或重量而产生的侧向应力。

为了有利于操作人员使用检查设备并且促进所执行的测量的高度可重复性，有利地可以设想：

-干涉法检查设备包括用于使支承凸缘返回其空闲位置的弹性复位装置；

-干涉法检查设备包括用于选择性地停止由弹性复位装置施加的弹性复位力的抑制装置；

-在步骤d)中，用户施加引起支承凸缘对抗弹性复位装置移动到释放位置的力；

-在步骤f)之后，抑制装置使由弹性复位装置施加的、支承凸缘向其空闲位置的返回停止。

为了减少测量所需的时间，优选地可以设想，在步骤g)中，干涉仪同时在套箍的表面上以及在基准面上聚焦。

附图说明

本发明的其它目的、特征和优点将从以下参照附图提供的对具体实施方式的描述变得明显，在附图中：

-图1是根据现有技术的由操作人员放置在干涉法检查设备上的适当位置的套箍的截面侧视图；

-图2是类似于图1的视图，其中操作人员不提供任何用于保持套箍的装置并且执行套箍的几何形状的检查；

-图3是根据本发明的一个特定实施例的干涉法检查设备的透视图；

-图4是图2的干涉法检查设备的详细透视图；

-图5是用于图2的干涉法检查设备中的支承凸缘的透视图；

-图6是图5的支承凸缘的后视图；

-图7是图5的凸缘的穿过第一平面P1的截面透视图，其中套箍被推压嵌合到由支承凸缘承载的两个杆上；

-图8是图5的凸缘在第一类型的套箍被推压嵌合到由支承凸缘承载的两个杆上之前的穿过垂直于第一平面P1的第二平面P2的截面图；

-图9是图8的凸缘在套箍已被推压嵌合到由支承凸缘承载的两个杆上之后的详细截面图；

-图10是图5的凸缘在第二类型的套箍被推压嵌合到由支承凸缘承载的两个杆上之前的、穿过与第一平面P1垂直的第二平面P2的截面图；

-图11是图10的凸缘在套箍已被推压嵌合到由支承凸缘承载的两个杆上之后的详细截面图；

-图12是图3的干涉法检查设备的某些构成元件的分解透视图；

-图13是类似于图12的透视图，其中某些元件被示出为组装好的且其它元件被示出为分解的；

-图14是图12所示的元件的正面的局部截面透视图，其中用于保持套箍的装置处于松开位置；

-图15是图14所示的元件的背面的透视图；

-图16是图14所示的元件的截面侧视图，其中支承凸缘处于空闲位置；

-图17是图14所示的元件的截面侧视图，其中支承凸缘处于释放位置但通过弹性复位装置返回空闲位置；

-图18是图14所示的元件的正面的透视图，其中用于保持套箍的装置处于抓握位置；

-图19是图18所示的元件的背面的透视图；以及

-图20是图18所示的元件的截面侧视图，其中支承凸缘处于释放位置且弹性复位装置已被抑制。

具体实施方式

图3至20示出根据本发明的干涉法检查设备1的一个特定实施例。该检查设备1用于检查多芯光纤连接器的套箍3的端面2的几何形状。大致呈平行六面体形状的该套箍3称为“MT套箍”。图中，套箍3已被示出不带光纤以便不使图示过于复杂。

图5和7更具体地示出，套箍3包括接合装置33，该接合装置包括适合于与包括杆6和7的接收装置34配合的两个导向孔4和5。杆6和7可借助沿轴向接收方向VI-VI推压嵌合到导向孔4和5内而被接收。接收装置34因此与接合装置33配合，以便在轴向接收方向VI-VI上接收套箍3并且将套箍3围绕所述轴向接收方向VI-VI旋转地转位。

接收装置34的杆6和7由支承凸缘8(图5至11)承载，该支承凸缘包括大致彼此背对的第一表面8a和第二表面8b。两个杆6和7从支承凸缘8的第一表面8a并远离该第一表面8a沿同一方向延伸。更具体地，杆6和7分别沿第一延伸方向I-I和第二延伸方向II-II延伸，这些方向是大致平行的(且平行于轴向接收方向VI-VI)，它们的取向是相对于由支承凸缘8承载的基准面9a和9b预定的。杆6和7被尺寸确定和定位成能分别穿过套箍3的导向孔4和5，以便将套箍相对于支承凸缘8固定和定向。

如图12和13中更具体地示出的，检查设备1包括用于保持支承凸缘8的装置10，该装置适合于在空闲位置(图16)接收支承凸缘8，在所述空闲位置支承凸缘8相对于干涉法检查设备1是固定的。

图17和20示出，用于保持支承凸缘8的装置10适合于将支承凸缘8释放到至少一个释放位置，在所述释放位置中该支承凸缘8可相对于干涉法检查设备1移动。

如在图14、16至18和20中更具体地示出的，干涉法检查设备1还包括用于保持套箍3的装置11，该装置与接收装置34是分开的并且可选择性地在抓握位置(图18和20)与松开位置(图14、16和17)之间移动，在所述抓握位置，用于保持套箍3的装置11保持套箍3相对于干涉法检查设备1固定，在所述松开位置，用于保持套箍3的装置11允许套箍3相对于干涉法检查设备1移动。

如图5至11所示，支承凸缘8包括：

-穿过支承凸缘8从其第一表面8a通向其第二表面8b的灯12；

-两个平面基准面9a和9b，它们被添加并附接至支承凸缘8的第一表面8a，并且定位成与灯12的区域对应。

灯12部分地定位于接收装置34的两个杆6和7之间。

更具体地，平面基准面9a和9b由被添加并附接至支承凸缘8的第一表面8a上的玻璃板13和14承载。

第一平面基准面9a和第二平面基准面9b均位于包含杆6和7的第一延伸方向I-I和第二延伸方向II-II的平面P1的一侧。基准面9a和9b被安置在平面P1和当套箍接合在接纳装置34中时该套箍3的端面2位于其中的区域的任一侧。

如图8和10中更具体地示出的，第一平面基准面9a相对于轴向接收方向VI-VI(并因此相对于杆6和7的第一和第二延伸方向I-I和II-II)形成约90°的角A1。关于第二基准面9b，它与轴向接收方向VI-VI形成约98°的角A2。

如图5、9和11所示，在支承凸缘8的第一表面8a上设置有远离支承凸缘8的第二表面8b突出的二面体15。

二面体15的顶点处的母线16包含在分别由平面基准面9a和9b限定的平面P3和P4中，并包含在由杆6和7的相应延伸方向I-I和II-II限定的平面P1中(图9和11)。

二面体的边16a和16b相对于由杆6和7的相应第一和第二延伸方向I-I和II-II限定的平面P1具有小于或等于81°的角A3和A4。平面P1还包含轴向接收方向VI-VI。

如图12、13、16、17和20中更具体地示出的，用于保持支承凸缘8的装置10包括截锥形的支承座17。关于支承凸缘8，它包括适合于通过圆锥形的接合而与用于保持支承凸缘8的装置10的截锥形的支承座17配合的截锥形的外周面18。在空闲位置(图16)，用于保持支承凸缘8的装置10将支承凸缘8围绕轴向接收方向VI-VI保持在相对于检查设备1的预定取向上。该预定取向可通过包括互补的非圆形(在本例中为卵形)截面的截锥形的支承座17和截锥形的外周面18的配合来实现。

在图14、16至18和20中可更具体地看到用于保持套箍3的装置11。该装置包括能相对于彼此移动的第一爪19和第二爪20。在本例中，第一爪19是固定的，而第二爪20能相对于第一爪19移动。在抓握位置(图18和20)，爪19和20将套箍3卡紧在它们之间，以便保持该套箍相对于检查设备1固定。在松开位置(图14、16和17)，爪19和20互相相距一定距离，以便允许套箍3相对于检查设备1移动。

更具体地，爪19和20均呈托架形状，从而允许它们获得在套箍3上的良好抓握，该套箍的外形大致为平行六面体。为了在抓握位置与松开位置之间移动，第二爪20能以双箭头21所示的可逆移动围绕轴向方向III-III枢转(图14和18)。

图13和19更具体地示出弹性复位装置22，它用于使支承凸缘8返回其空闲位置。为实现这一点，弹性复位装置22包括由板23承载的两个板簧22a和22b。板簧22a和22b通过抵靠在由支承凸缘8承载的球形支承面24a和24b而将支承凸缘8推向其空闲位置。在图16和17中可更具体地看到这种向空闲位置的返回。

板簧22a和22b的自由端220a和220b是弯曲的。如图20所示，当球形支承面24a和24b与弯曲的自由端220a和220b对应(图20)时，板簧22a和22b不再与球形支承面24a和24b接触，使得弹性复位装置不再在支承凸缘8上施加任何复位力。

换而言之，弹性复位装置22可由抑制装置25抑制，该抑制装置包括杠杆26，该杠杆适合于使承载板簧22a和22b的板23在横向方向IV-IV上往复滑动。在图15所示的杠杆26的第一位置，板23定位成与支承凸缘8对应，使得板簧22a和22b抵靠在球形支承面24a和24b上，该球形支承面施加使支承凸缘8返回其空闲位置的返回力。在图19所示的杠杆26的第二位置，板23滑动到其中球形支承面24a和24b与板簧22a和22b的弯曲自由端220a和220b对应但不接触的位置。移动到其第二位置的杠杆26因此具有抑制弹性复位装置22的作用。

图12和14示出，杠杆26与螺纹杆27刚性连接：杠杆26在其第一位置与第二位置之间的枢转引起螺纹杆27围绕横向方向V-V旋转。螺纹杆27接合在螺母28中，该螺母经由球形支承面29抵靠在第二爪20上。

当杠杆26移动到其第二位置(在图19中示出)以便抑制弹性复位装置22时，该杠杆使螺纹杆27围绕横向方向V-V旋转。这种旋转具有使螺母28以由箭头30(图14)示出的移动沿轴向移动的作用，由此使第二爪20枢转至抓握位置。

螺母28所进行的由箭头30示出的平移移动对抗由弹性推杆31沿横向方向V-V施加的反方向压力而发生。弹性推杆31因此具有使第二爪20持续地返回至松开位置的作用。因此，当杠杆26移动至其第一位置(在图15中示出)时，弹性推杆31自动使第二爪20返回松开位置。

上述干涉法检查设备1使得可以实施通过干涉法来检查多芯光纤连接器的套箍3的端面2的几何形状的方法，所述方法包括以下步骤：

A)提供干涉仪；

B)提供支承凸缘8，该支承凸缘包括基本上彼此相对的第一表面8a和第二表面8b以及相对于由支承凸缘8承载的至少一个基准面9a、9b以预定方式定位和定向的接收装置34，所述接收装置34适合于与套箍3的接合装置33配合以便通过在轴向接收方向VI-VI上接收套箍3以及通过使套箍3围绕所述轴向接收方向VI-VI旋转变位来将套箍3相对于支承凸缘8定位和定向；

C)提供套箍3，该套箍包括适合于与接收装置34配合的接合装置33，并且包括必须检查其几何形状的端面2；

D)将套箍3接合在支承凸缘8的接收装置34中；

E)借助保持装置11抓握套箍3，以便将由套箍3和支承凸缘8形成的子组件保持在相对于干涉仪的固定位置，支承凸缘8仅经由被保持在保持装置11中的套箍3而相对于干涉仪被保持；

F)通过将干涉仪在支承凸缘8的基准面9a、9b上聚焦并且通过将干涉仪在套箍3的端面2上聚焦来检查套箍3的端面2的几何形状。

应当注意，在上述方法中，没有使用用于保持支承凸缘8的装置10。支承凸缘8事实上可由用户在步骤D)中手动保持。

然而，可优选将检查设备1用于如下所述地检查套箍3的端面2的几何形状。

在这种使用中，如图3所示地提供根据本发明的检查设备1，并且用户握住待检查的套箍3。用户然后沿轴向接收方向VI-VI以由箭头32示出的移动将套箍3插入到检查设备1中，以便将套箍3接合在接收装置34的杆6和7上。此刻，保持装置10的爪19和20处于松开位置，而支承凸缘8由弹性复位装置22置于并保持在空闲位置。

当它接合时，套箍3通过向其导向孔4和5内的推压嵌合来接收杆6和7。杆6和7借助温和的力穿过导向孔4和5，直至套箍3的端面2抵靠在二面体15的顶点的母线16上。这然后处于如图16所示的构型。操作人员然后通过施加对抗弹性复位装置22的压力来继续进行由箭头32(图4)示出的移动，以将支承凸缘8移动到释放位置(图17)。这具有通过弹性地推回板簧22a和22b来使支承凸缘8的截锥形的外周面18与截锥形的支承座17分离的作用。换而言之，用户通过向支承凸缘8施加超过预定值的压力来将套箍3推压嵌合到凸缘8的杆6和7上，从而使得可以对抗用于保持支承凸缘8的装置10(特别是弹性复位装置22)将支承凸缘8移动到释放位置。

操作人员然后将杠杆26移动其在图19中示出的抑制位置(或第二位置)。在该移动期间，板23滑动，直至板簧22a和22b不再与支承凸缘8的球形支承面24a和24b接触。

同时，杠杆26向其抑制位置的移动引起第二爪20枢转至其抓握位置。它然后处于图20所示的构型中。

一旦处于图20所示的构型中，套箍3便由第一爪19和第二爪20保持，而凸缘8现在仅通过接合装置33与接收装置34的配合(通过将杆6和7压入嵌合到导向孔4和5内)而被保持。换而言之，支承凸缘8仅经由被保持在保持装置11中的套箍3而相对于干涉仪被保持：由于套箍3相对于干涉仪的角运动也传递至支承凸缘8的事实，减轻或甚至完全消除了由光导体的刚性和/或重量产生的侧向应力的影响。

然后可以开始干涉法检查和测量操作。

如果套箍是如图8所示的APC型套箍(其中端面2与垂直于导向孔4和5的延伸方向的平面形成约8°的角A5)，则在套箍3的端面2上和然后被用作基准面的第二基准面9b上执行干涉测量。将在套箍3的端面2上执行的测量与在基准面9b上执行的测量进行比较使得可以推断端面2相对于套箍3的导向孔4和5的延伸方向(导向孔4和5的延伸方向与杆6和7的延伸方向I-I和II-II相同，这些延伸方向I-I和II-II相对于基准面9b具有已知的预定取向)的角S_X。

如果套箍3是如图10所示的PC型套箍(其中端面2垂直于导向孔4和5的延伸方向)，则它处于图11所示的构型中。然后通过测量套箍的端面2上和基准面9a上的多个点来执行检查。然后处理该数据以便通过与基准面9a的角度的差值来推断套箍3的端面2的角度S_X。

不论套箍3是APC型还是PC型，都在位于同一平面中的表面2和9a或2和9b上执行干涉测量：在图9中，端面2位于基准面9b的平面P4中，而在图11中，端面2位于基准面9a的平面P3中。待测量表面的这种相对共面性使得可以通过花费较少的时间将干涉仪聚焦来更快地执行测量。测量的精度也稍微提高。

一旦已经执行测量，杠杆26就返回其在图15中示出的第一位置。弹性复位装置22然后将支承凸缘8压入空闲位置，并且第一爪19和第二爪20移动到松开位置以便允许用户从接收装置34的杆6和7拔出套箍3。

上述检查设备1便于操作人员使用并且就测量而言呈现了良好的可重复性和高度的可靠性。因此限制了测量结果对操作人员的机敏度的依赖性。光导体的刚性和/或重量所导致的误差被大幅限制，因为套箍3相对于干涉法检查设备1的任何角运动也传递至支承凸缘8。

本发明并不局限于已经明确描述的实施例，而是包括落入后附的权利要求的范围内的各种替代形式及其归纳。