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一种基于FEA仿真设计芯片测试插座结构的方法及其应用

摘要

本发明涉及基于FEA仿真设计芯片测试插座结构的方法,首先在仿真软件中,建立数字信号传输的3D模型,其次按照3D模型搭建仿真电路模型,统计电压分布情况,再次根据仿真电路模型获取采样结果,得到噪声等效分布情况,根据噪声等效分布情况,模拟选择在噪声位置加入一个或多个探针,形成多个加入探针方案,最后通过信号完整性分析结果使得芯片测试插座电路的阻抗达到最佳匹配,得到最佳探针加入位置和探针长度的方案。本发明与传统的芯片测试方法和底座比较,增加一些特定长度的接地探针包裹传输信号,可有效减小信号的干扰,通过FEA仿真工具选择合适探针及探针位置,设计出最优芯片测试插座,最大程度上节约测试成本,保证芯片测试精度。

著录项

  • 公开/公告号CN107729581A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-02-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 苏州韬盛电子科技有限公司;

    申请/专利号CN201610647782.7

  • 发明设计人 施元军;郭靖;刘凯;

    申请日2016-08-10

  • 分类号G06F17/50(20060101);G01R31/28(20060101);

  • 代理机构11357 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人刘洪勋

  • 地址 215000 江苏省苏州市工业园区唯文路18号

  • 入库时间 2023-06-19 04:38:39

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-03-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/50 申请日:20160810

    实质审查的生效

  • 2018-02-23

    公开

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