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用于校准SLS系统或SLM系统的至少一个扫描系统的方法

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摘要

本发明涉及一种具有权利要求1的前序部分的其它特征的、用于校准激光烧结系统或激光熔化系统的至少一个扫描系统的方法。

公开/公告号CN107708971A

专利类型发明专利
公开/公告日2018-02-16

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申请/专利权人 CL产权管理有限公司;
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申请/专利号CN201780002040.1
发明设计人 F·赫尔佐克;F·贝希曼;F·措伊尔纳;
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申请日2017-02-02
分类号B29C64/153(20170101);B29C64/386(20170101);B29C64/393(20170101);B33Y50/00(20150101);B33Y50/02(20150101);G05B19/401(20060101);
代理机构11247 北京市中咨律师事务所;
代理人金林辉;吴鹏
地址德国利希滕费尔斯
入库时间 2023-06-19 04:34:27

1. 用于校准SLS系统或SLM系统的至少一个扫描系统的方法 [P] . 中国专利： CN107708971B . 2020.12.22
2. 用于校准SLS系统或SLM系统的至少一个扫描系统的方法 [P] . 中国专利： CN107708971A . 2018-02-16
3. Method for calibrating at least one scanning system of an SLS facility or SLM facility [P] . 日本专利： JP6591068B2 . 2019-10-16

机译：用于校准SLS设施或SLM设施的至少一个扫描系统的方法
4. Method for calibrating at least one scanning system of an SLS facility or SLM facility [P] . 日本专利： JP2018526254A . 2018-09-13

机译：用于校准SLS设施或SLM设施的至少一个扫描系统的方法
5. Method for calibrating at least one scanning system, an SLS or SLM system [P] . 德国专利： DE102016106403A1 . 2017-10-12

机译：校准至少一个扫描系统，SLS或SLM系统的方法