公开/公告号CN107607376A
专利类型发明专利
公开/公告日2018-01-19
原文格式PDF
申请/专利号CN201710823440.0
申请日2017-09-13
分类号
代理机构西安智邦专利商标代理有限公司;
代理人陈广民
地址 710065 陕西省西安市电子二路32号
入库时间 2023-06-19 04:20:33
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2018-02-13
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N1/28 申请日:20170913
实质审查的生效
2018-01-19
公开
公开
机译: 带有静态存储单元软缺陷检测单元的半导体集成电路,用于相同缺陷的软缺陷检测方法以及未经保留测试的相同缺陷的测试方法
机译: 用于确定表面缺陷(即,在测试对象上的腔缺陷)的测试装置具有传感器布置,该传感器布置具有布置并对准的传感器,使得传感器检测要测试的测试对象的整个表面
机译: 通过使测试体和充磁装置相互相对移动,在测试体中感应出涡流,利用对感应涡流的影响来检测缺陷,从而检测用于轨道测试的铁磁材料测试体的缺陷