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低稀释比熔融X射线荧光光谱分析铌钽矿石的方法

摘要

本发明公开了一种低稀释比熔融X射线荧光光谱分析铌钽矿石的方法,先行设计标准曲线,配制并熔融标准样品,而后确定仪器分析条件,校正基体及谱线重叠效应,建立分析方法,以模拟原矿及精矿样品验证方法有效性,测定铌钽矿石中铌、钽、钛、硅、铁、锰、钙、铝、钠、钾和钨;本发明选择低稀释比熔融制样作为铌钽矿石X射线荧光光谱分析前处理方法在保证方法灵敏度的前提下消除了粒度效应及矿物效应,同时亦解决了样品分解问题,避免了铌、钽在酸性溶液中的水解;使用低稀释比熔融‑X射线荧光光谱分析铌钽矿石主次成分较之传统方法更省时省力;本方法具有检出限低、线性范围宽、分析速度快等优点。

著录项

  • 公开/公告号CN107576680A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-01-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201710801221.2

  • 发明设计人 李可及;赵朝辉;卢彦;李刚;

    申请日2017-09-07

  • 分类号G01N23/223(20060101);G01N1/36(20060101);G01N1/44(20060101);G01N1/38(20060101);

  • 代理机构51211 成都天嘉专利事务所(普通合伙);

  • 代理人蒋斯琪

  • 地址 610041 四川省成都市武侯区二环路南三段5号

  • 入库时间 2023-06-19 04:15:03

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-02-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/223 申请日:20170907

    实质审查的生效

  • 2018-01-12

    公开

    公开

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