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一种锆石裂变径迹薄片的制备方法

摘要

本发明提供了一种锆石裂变径迹薄片的制备方法,其包括以下步骤:(1)、对锆石薄片初品进行粗磨,以磨掉锆石颗粒最外部的粗糙部位露出内部洁净部位;(2)、采用抛光布对步骤(1)粗磨后得到的样品进行粗抛光,以除去锆石薄片初品上的深大擦痕;(3)、再采用抛光布对步骤(2)粗抛光后得到的样品进行细抛光,以除去锆石薄片初品上的粗擦痕;(4)、再采用抛光布对步骤(3)细抛光后得到的样品进行精抛光,以除去锆石薄片初品上的细微擦痕,得到所述锆石裂变径迹薄片。与现有方法相比,本发明所提供的制备方法可有效提高锆石裂变径迹薄片的制样效率和精度。

著录项

  • 公开/公告号CN107576545A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-01-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国石油大学(北京);

    申请/专利号CN201710950453.4

  • 申请日2017-10-13

  • 分类号

  • 代理机构北京三友知识产权代理有限公司;

  • 代理人闫加贺

  • 地址 102249 北京市昌平区府学路18号

  • 入库时间 2023-06-19 04:15:03

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-02-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N1/28 申请日:20171013

    实质审查的生效

  • 2018-01-12

    公开

    公开

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