首页> 中国专利> 针对特定光学测量来确定物体性质

针对特定光学测量来确定物体性质

摘要

针对特定光学测量来确定物体性质。一种识别具有特定测量性质的待测量的物体的表面点或区域(14、15)以用于利用光学传感器(10)对相应点或区域(14、15)进行光学测量的方法,光学传感器(10)提供限定的测量条件,测量条件至少关于为限定的空间关系的测量光的发射和反射测量光的接收。该方法包括:限定物体的关注点或区域(14、15),针对期望的光学测量来确定限定的点或限定的区域(14、15)的光学性质,并基于该光学性质来导出物体信息。

著录项

  • 公开/公告号CN107525479A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-12-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 赫克斯冈技术中心;

    申请/专利号CN201710455386.9

  • 发明设计人 J·斯蒂格瓦尔;托马斯·延森;

    申请日2017-06-16

  • 分类号

  • 代理机构北京三友知识产权代理有限公司;

  • 代理人吕俊刚

  • 地址 瑞士赫尔布鲁格

  • 入库时间 2023-06-19 04:06:43

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-03-20

    授权

    授权

  • 2018-01-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/25 申请日:20170616

    实质审查的生效

  • 2017-12-29

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号