首页> 中国专利> TIMS‑Q‑q‑TOF质谱仪中异构体的详细分析

TIMS‑Q‑q‑TOF质谱仪中异构体的详细分析

摘要

本发明涉及在配备一个俘获离子迁移谱仪、一个四极杆质量过滤器和一个破碎池的飞行时间质谱仪中详细分析有机物质复杂混合物中离子混合物的方法。本发明提出,分析第一个质量‑迁移率图的离子信号、碎片离子谱和相关物质的鉴定,确定是否有未按质量和迁移率解析的离子混合物存在,例如,由异构体或同量异位素组成的离子混合物,然后用允许通过高迁移率分辨率来分开测量例子种类的这类方法参数测量有意义的离子。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-01-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N27/62 申请日:20170602

    实质审查的生效

  • 2017-12-12

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号