用于优化标准单元的可制造性的方法和系统

摘要

本发明提供一种用于优化标准单元的可制造性的方法和系统，所述方法包括：为标准单元创建随机的背景环境；将通孔插入到所述标准单元中；以及对插入通孔后的标准单元进行光刻验证。本发明所提供的用于优化标准单元的可制造性的方法和系统可以用于及早检测和解决标准单元引脚连线上的潜在热点，减少在芯片级上由布线器引入的热点，减少物理工程师为解决热点所花费的精力，从而缩短设计流片循环时间。