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提高空间分辨率的二维角分辨质子谱仪

摘要

本发明提供一种提高空间分辨率的二维角分辨质子谱仪,包括外壳以及设置在外壳内的金属薄片、磁铁组件及质子探测屏幕;其中金属薄片设置在质子束的入射路径上,在金属薄片上设有入射孔,入射孔为点阵结构;磁铁组件包括两块平行间隔设置的异名磁极磁铁,质子束的入射路径穿过两块异名磁极磁铁之间;质子探测屏幕设置在质子束的入射路径上。本发明的有益效果如下:为了提高谱仪的空间分辨率,对原先的二维角分辨质子谱仪进行了改进:将针孔在一维方向上加密,使质子束信号的空间分辨角度由之前的1.9°提高到0.285°。这样能够探测更为直观的质子空间分布信息,对于激光驱动质子加速的研究起到重要的作用。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-05-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01J49/26 申请日:20170426

    实质审查的生效

  • 2017-09-19

    公开

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