首页> 中国专利> 动态荧光分子断层成像的处理方法和系统

动态荧光分子断层成像的处理方法和系统

摘要

本发明涉及一种动态荧光分子断层成像的处理方法及系统,包括:针对待分析对象,采集测量数据,测量数据为多光谱的、多时间点的动态荧光测量数据;基于动态荧光测量数据建立每个光谱、每个时间点下的三维荧光分子断层图像;对三维荧光分子断层图像进行分解,得到各个荧光目标的独立分量信息,以及独立分量信息相应的光谱分布信息;根据独立分量信息和光谱分布信息,得到三维代谢参数图像,三维代谢参数图像用于表征荧光分子探针在待分析对象中的代谢过程。本发明实施例有助于降低DFMT问题的病态性,此外,在重建得到FMT图像基础上,先进行多变量分析,再针对各个荧光目标求取代谢参数结果,可以排除其他荧光目标、噪声的干扰,提高重建结果的准确性。

著录项

  • 公开/公告号CN107184181A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-09-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华大学;

    申请/专利号CN201710339916.3

  • 发明设计人 罗建文;陈毛毛;周源;宿涵;白净;

    申请日2017-05-15

  • 分类号

  • 代理机构北京睿邦知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人徐丁峰

  • 地址 100084 北京市海淀区清华大学

  • 入库时间 2023-06-19 03:17:41

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-10-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):A61B5/00 申请日:20170515

    实质审查的生效

  • 2017-09-22

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号