首页> 中国专利> 用于清除蚀刻后和灰化的光致抗蚀剂残余物及大部分光致抗蚀剂的组合物

用于清除蚀刻后和灰化的光致抗蚀剂残余物及大部分光致抗蚀剂的组合物

摘要

本发明提供了用于清洁微电子基板的清洁组合物,所述清洁组合物基本上可以完全清洁这些基板并抑制金属的腐蚀或使这些基板的金属元素基本上无腐蚀,且与现有技术含碱性的清洁组合物相比需要相对短的清洁时间和相对低的温度。本发明还提供了使用此清洁组合物清洁微电子基板而不产生任何此微电子基板金属元素的明显腐蚀的方法。本发明的清洁组合物包括(a)至少一种有机溶剂,(b)至少一种未中和的含磷的无机酸,和(c)水。任选地本发明的清洁组合物可以含有其他成分,如表面活性剂、金属配合或螯合剂、腐蚀抑制剂等。本发明的清洁组合物的特征为不含有机胺、羟胺或其他会中和含磷的无机酸成分的强碱,如铵碱等。本发明清洁和去除残余物的组合物尤其适合于清洁含有铝、钛和钨的微电子基板。

著录项

  • 公开/公告号CN101171551B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-12-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 安万托特性材料股份有限公司;

    申请/专利号CN200680015505.9

  • 发明设计人 肖恩·M·凯恩;

    申请日2006-04-18

  • 分类号G03F7/42(20060101);H01L21/3213(20060101);

  • 代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人张平元;赵仁临

  • 地址 美国新泽西州

  • 入库时间 2022-08-23 09:12:34

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-05-24

    专利权的转移 IPC(主分类):G03F 7/42 登记生效日:20170503 变更前: 变更后: 申请日:20060418

    专利申请权、专利权的转移

  • 2012-12-26

    授权

    授权

  • 2008-06-25

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-04-30

    公开

    公开

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