用于使用离轴检测器测量薄片材料或其他材料的混浊度的设备和方法

摘要

本发明涉及用于使用离轴检测器测量薄片材料或其他材料的混浊度的设备和方法，该方法包括用沿着光学路径的第一光照亮材料。方法还包括使用第一检测器来捕获透射通过材料的第二光的图像，其中第二光的第一部分遵循第一光的光学路径，并且第二光的第二部分从光学路径偏离。方法还包括使用第二检测器来捕获第三光的一个或多个测量结果。与第二光的第二部分相比，第三光从光学路径偏离更大的量，并且第二检测器与第一检测器分隔开。此外，该方法包括基于图像和一个或多个测量结果确定与材料相关联的一个或多个混浊度值；以及以下操作中的至少一个：存储和输出所述一个或多个混浊度值。