具有双天线模式的NFC天线的认证测试方法

摘要

本发明公开了一种具有双天线模式的NFC天线的认证测试方法，包括：在待测设备上确定待测点；根据测试设备设定的各测试点，移动待测设备，直至所述待测点依顺序与各测试点重合；分别判断各测试点对应的参数是否均满足其对应的预设条件；若是，则确定所述待测点为基准点；若否，则确定新的待测点；继续进行所述根据测试设备设定的各测试点，移动待测设备，直至所述待测点依顺序与各测试点重合的步骤。本发明可正确地确定出基准点，避免原来可通过认证的NFC天线由于未移动到最佳相对位置而导致认证不成功，从而提高认证准确率。特别，基准点的选取范围和移动的方向是按照待测NFC天线穿过测试天线线圈的磁通量绝对值来进行判断的。